Placa de E/S digital PEMU32
serialUSBde 16 E/S

Placa de E/S digital - PEMU32 - OpenATE Inc. - serial / USB / de 16 E/S
Placa de E/S digital - PEMU32 - OpenATE Inc. - serial / USB / de 16 E/S
Guardar nos favoritos
Comparar

Características

Tipo de sinal
digital
Interface
serial, USB
Número de entradas/saídas
de 16 E/S
Formato
PXI
Tamanho
3U
Outras características
programável, compacta

Descrição

O PE16S representa um novo nível de desempenho e capacidades para instrumentação digital baseada em PXI. Com base na arquitetura comprovada do PE16, o PE16S oferece uma eletrónica de pinos de elevado desempenho e um gerador de temporização melhorado num formato PXI 3U compacto. Cada placa pode funcionar como um subsistema digital autónomo ou, se necessário, podem ser interligadas várias placas, suportando até 256 pinos bidireccionais (16 placas). O PE16S oferece 16 canais de entrada ou saída de nível programável com 2 PMU. O PE16S também suporta memória de padrões profundos, oferecendo 32 M de memória vetorial integrada com controlo de direção dinâmico por canal, executando taxas de teste até 66 MHz. Caraterísticas O PE16S suporta níveis de E/S programáveis de -1V ~ +7V por canal. O PE16S oferece 16 conjuntos de temporização, 2 bordas TG de driver, 2 bordas TG de strobe. são suportados 2 conjuntos de formatos, alterados em tempo real, e 2 formatos de dados de acionamento. O PE16S também suporta funções de porta série: MIPI RFFE . Estas funções tornam o teste de dispositivos de porta série muito mais fácil do que antes. Memória a bordo O PE16S oferece 32 M de memória vetorial por canal. Tempos de ciclo de padrão programáveis até 232 ou infinitos. Existem símbolos de padrão incluindo 0, 1, L, H, X, Z, J, Q. Compatibilidade Todas as placas PXI da OpenATE Interfaces estão em conformidade com a Especificação PXI 2.0 (emitida em agosto de 2000) Software O PE16S é fornecido com a API e o Pattern Editor. O Pattern Editor é uma ferramenta de software que edita padrões de teste. Aplicação - Equipamento de teste automático (ATE) - Teste funcional digital do consumidor - Geração de padrões digitais - Porta de série para RF IC

---

Catálogos

Não estão disponíveis catálogos para este produto.

Ver todos os catálogos da OpenATE Inc.
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.