Espectrômetro de fotoelétrons excitados por raios X XPS

de laboratóriopara tratamento de superfíciespara espectroscópio

Visão geral
A espectroscopia de fotoelétrons por raios X (XPS), também conhecida como ESCA, é uma técnica consolidada de análise de superfície para caracterização de materiais. A XPS fornece informações quantitativas sobre elementos e estados químicos nos ~10 nm superiores de um material. O espectrômetro de fotoelétrons Kratos AXIS Nova coleta espectros e imagens XPS de materiais estáveis sob as condições de ultra‑alto vácuo exigidas pela técnica.

Desempenho
Projetado para uso eficiente em laboratório e produção, o AXIS Nova possui carregamento automatizado de amostras, câmeras ortogonais para posicionamento rápido e software de aquisição intuitivo. A placa de amostra de 110 mm permite o manuseio de amostras grandes e alto rendimento sem comprometer sensibilidade, resolução energética ou desempenho de imageamento espacial.

Características

• Sensitivity — Coleta eficiente de fotoelétrons para alta sensibilidade em modos de espectroscopia e imageamento XPS.
• Resolution — Excelente resolução energética para medições precisas de pequenos deslocamentos químicos.
• Simplicity — Utiliza o software ESCApe para aquisição, processamento e geração de relatórios, garantindo fluxos de trabalho consistentes entre instrumentos Kratos.
• Parallel XPS imaging — Permite mapear a distribuição elementar e química na superfície.
• Automation — Manuseio automatizado de amostras e fluxos de trabalho predefinidos para aumentar rendimento e repetibilidade.
• Additional capabilities — Sistema extensível: opção de lâmpada UV He‑discharge para UPS (banda de valência e trabalho de função) e módulos analíticos adicionais.

Aplicações (selecionadas)

• Revestimentos e filmes finos
• Polímeros e tratamentos de superfície
• Perfilamento por sputter com aglomerados de gás Arn+ de polímeros plasmáticos reticulados
• Análise de stents poliméricos revestidos com fármaco
• Sistemas combinatórios de filmes finos — análise por matriz

Especificações técnicas

• Técnica: espectroscopia de fotoelétrons por raios X (XPS) / ESCA
• Profundidade de análise: informação dos ~10 nm superiores do material
• Diâmetro da placa de amostra: 110 mm (manuseio de amostras grandes)
• Manuseio de amostras: carregamento automatizado
• Posicionamento: câmeras ortogonais para alinhamento fácil
• Imageamento: imageamento XPS paralelo com alta resolução espacial
• Sensibilidade e resolução: alta sensibilidade e excelente resolução energética
• Software: ESCApe para aquisição, processamento e geração de relatórios
• Opções: lâmpada UV He‑discharge para UPS (banda de valência e trabalho de função)