Placa controladora FPGA S-TEST UTB

LVDS

Placa universalmente aplicável para um teste eficiente ao nível do sistema (SLT) de sensores digitais, testes de caraterização de sensores ou testes finais na produção em massa de sensores. Dados selecionados Faixa de tensão de alimentação: -2 V...+20 (25)1) V Corrente de alimentação: até ±50 (20)1) mA/fonte 12.resolução de temporização de 5 ns Controlo da taxa de variação (1 V/μs...8,3 V/ms) Caraterísticas FPGA rápido para núcleos IP de interface de host e FW Suporte para SPI, I²C, JTAG, SENT, PSI5, CAN-FD2), LIN, ZACwire™ 16 pinos IO livremente programáveis 4 fontes de alimentação independentes Funcionalidade de acionamento externo Interface de backplane LVDS rápida Interface de funções especiais para extensão de hardware personalizado