Máquina de ensaio de temperatura HS-LDTS2000

de qualidadede performanceautomática

HS-LDTS2000 é um testador de desempenho optoeletrônico para chips LD projetado para ambientes de produção para avaliar chips laser de comprimento de onda longo sob condições controladas de temperatura ambiente e alta. Integra manuseio automatizado e imagem inteligente para suportar controle de qualidade de alto rendimento.

Principais funções

• Fluxo de trabalho automático de manuseio e teste
• Inspeção de aparência AOI e reconhecimento OCR de caracteres para faces frontais e de extremidade
• Alta capacidade de teste por unidade de tempo

Áreas de aplicação

• Fotônica
• Dispositivos de potência
• Dispositivos RF de micro-ondas
• Setor de veículos de nova energia

Vantagens

• Banco de controle de temperatura desenvolvido internamente com regulação de alta precisão adequado para testes em temperatura ambiente e alta
• Sistema de visão de alta precisão com suporte a re-inspeção para garantir a estabilidade do produto
• Compatibilidade de alimentação — suporta 2" GEL-PAK e anel de wafer 6"
• Mesa rotativa com estações de trabalho separadas e operação sincronizada para aumentar o rendimento

Características / Especificações técnicas

• Capacidade de teste: parâmetros LIV e parâmetros espectrais da iluminação frontal e traseira de chips laser de comprimento de onda longo em condições de temperatura ambiente e alta
• Métodos / processo de teste: teste de desempenho fotoelétrico de chips LD (características fotoelétricas e medição espectral)
• Escopo do produto: chips LD
• Faixa de tamanho de chip: mínimo 0.15 x 0.2 mm; máximo 10.0 x 10.0 mm
• Eficiência do equipamento: aproximadamente 4.5–6 S/PCS (dependendo da aplicação de teste específica)