Microscópio FIB/SEM AMBER Xpara análisesin-lens SEmodular
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Características
- Tipo
- FIB/SEM
- Aplicações técnicas
- para análises
- Tipo de detector
- in-lens SE
- Outras características
- modular, de ultra-alta resolução
Descrição
Uma combinação única de FIB de plasma e MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo para caracterização de materiais em múltiplas escalas
• Processamento FIB de grande área e alta produtividade até 1 mm
• Preparação de microamostras sem implantação de Ga
• Imagens e análises MEV-FEG de Ultra-alta Resolução livre de campo
• Detecção SE e BSE na lente (in lens)
• Otimização da resolução para tomografia MEV-FIB multimodal de alto rendimento
• Campo de visão superior para facilitar a navegação
• Interface gráfica de usuário modular de fácil uso, Essence ™
Catálogos
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.