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Microscópios para a pesquisa sobre materiais
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... envolvem microscopia eletrônica* e • - Tome decisões rápidas e apropriadas com base em informações confiáveis sobre os materiais, tanto visual quanto química. Não é necessária a preparação de amostra tal qual para ...
Leica Microsystems GmbH
... -se na mais moderna tecnologia de LED e é totalmente integrada ao microscópio. A baixa irradiação de calor e a integração no suporte garantem um ótimo fluxo de ar ao redor do microscópio. A longa duração e também o baixo ...
Leica Microsystems GmbH
... investigar estruturas cristalinas, a microscopia de polarização irá atendê-lo melhor. Quer se trate de minerais, plásticos e polímeros, medicamentos e produtos farmacêuticos, ou pigmentos e cimento, com os nossos microscópios ...
Leica Microsystems GmbH
Peso: 32, 14, 20 kg
Comprimento: 240, 458,5 mm
Largura: 293,5, 429 mm
... usabilidade, reprodutibilidade e automatização - e se também precisa de microscopia ótica avançada para análise de materiais e metalografia. Sendo uma solução completa para laboratórios de materiais, ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Investigue, desenvolva e analise materiais, especialmente espécimes metalográficos, em pouco tempo com o ZEISS Axio Observer. Tire partido do seu design invertido. O Axio Observer combina a qualidade da ótica da ZEISS com componentes ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... necessidades, quer se trate de ciências da vida, ciências dos materiais ou garantia de qualidade industrial de rotina e análise de falhas. Solução versátil para instalações centrais de microscopia ou laboratórios ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm
... O HF5000 é um S/TEM com correção de Cs, personalizável para experiências in-situ. A caraterística especial é proporcionada pelo detetor Everhart Thornley SE, que capta imagens da superfície da amostra a 60-200kV, tal como num SEM. Isto é particularmente ...
Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm
... retrodifundidos de semicondutor de 5 segmentos para alto e baixo vácuo, seleção de diferentes modos de sinal, como contraste de material, topografia de superfície, 3D -- Detetor multifunções opcional "UVD": Electrões secundários ...
Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm
... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...
... abrangente do
material.
Recursos
- É possível medir espectros FTIR e Raman sem mover a amostra.
- Software unificado para medição e análise de espectros FTIR e Raman.
- Fornece
Ampliação : 10 unit - 220 unit
Resolução espacial: 650 nm
Peso: 137 g
... Com a utilização das mais recentes ópticas de ponta, um novo sensor de 5 megapixéis e várias características especiais, o Dino-Lite AM7915MZT é uma maravilha da tecnologia e a melhor escolha para os profissionais mais exigentes. O Dino-Lite AM7915MZT ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Ampliação : 10 unit - 220 unit
Peso: 110 g
Comprimento: 11,9 cm
... O Dino-Lite AM73915MZT faz parte da gama High Speed com ligação USB 3.0. Oferece uma excelente qualidade de imagem sem compressão e reprodução de cores numa caixa metálica robusta, compacta e apelativa. O USB 3.0 acrescenta um novo modo ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Ampliação : 10 unit - 140 unit
Peso: 110 g
Comprimento: 11,9 cm
... longa distância de trabalho que faz parte da gama High Speed com ligação USB 3.0. Oferece uma excelente qualidade de imagem sem compressão e reprodução de cores numa caixa metálica robusta, compacta e apelativa. O USB 3.0 adiciona um ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Ampliação : 40 unit - 800 unit
Ampliação : 40 unit - 800 unit
Ampliação : 45 unit
Ampliação : 160 unit - 350.000 unit
Resolução espacial: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Peso: 50 kg
... G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. caraterísticas SEM de nível básico com fonte CeB6 de alto brilho, adequado para tarefas educacionais e básicas de I&D. Fácil de utilizar ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 160 unit - 175.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 15 nm
Peso: 50 kg
... modelo mais avançado, combinando todas as caraterísticas do Phenom Pro G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. Caraterísticas SEM de secretária com uma fonte de electrões duradoura ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 160 unit - 200.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg
... Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM oferece velocidade e precisão excepcionais. Proporciona um rendimento extremamente rápido que é até 10 vezes mais rápido do que os microscópios electrónicos de varrimento ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio ópticoEclipse LV100ND
Peso: 9,5 kg
Comprimento: 657 mm
Largura: 251 mm
... O desenho universal do microscópio permite técnicas complementares de contraste óptico em conjunto num único suporte de microscópio graças a um programa modular de componentes. Nikon ECLIPSE LV100NDA e LV100ND Estes ...
Nikon Metrology
Resolução espacial: 0,5 µm
... proporciona uma rápida aquisição de dados e a capacidade de mudar facilmente os materiais do ânodo para otimizar o contraste para tipos específicos de amostras. O que é a microscopia de raios X? Tomografia é o estudo ...
Ampliação : 10 unit
Peso: 7.488 g
Comprimento: 440 mm
... O OKM da KERN é um excelente microscópio de transmissão de luz metalúrgico por exemplo para os exames da qualidade das superfícies de matérias primas e de produtos prontos na indústria A iluminação (Philips) de transmissão de luz por ...
Ampliação : 40 unit - 300.000 unit
Resolução espacial: 4 nm - 8 nm
Peso: 120 kg
... Visão geral
- Microscópio eletrónico de varrimento de bancada CEM3000A concebido para observação da morfologia à escala micro e análise de superfícies de materiais. Suporta imagem de alto contraste e grande
... O novo " Microscópio de Visão Mecânica" (MVM) é um microscópio puramente digital com todas as características que fazem um microscópio. Tem uma objetiva de microscópio apocromaticamente ...
... DF, DIC e POL para as análises múltiplas. Microscópio invertido de nível de entrada para aplicações gerais para testes de dureza. Microscópio invertido industrial e da ciência dos materiais especialmente ...
... Os microscópios invertidos Oxion Inverso para a ciência dos materiais são intensivamente utilizados para a observação de grandes peças de material feitas de metal, madeira, plástico e muito mais O Oxion ...
... MEV-FIB nano analítico versátil para expandir seus recursos de pesquisa de materiais • Preparação de microamostras de alta precisão • Imagem e nanoanálise MEV-FEG em Ultra-alta Resolução livre de campo • Campo de ...
microscópio eletrônico de varredura (MEV)SEM3200
Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 é um microscópio eletrônico de varredura com filamento de tungstênio de alto desempenho. Possui excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo. Também possui uma grande profundidade de campo ...
CIQTEK Co., Ltd.
... 1. Aplicação O microscópio metalográfico HL401W é um microscópio metalográfico vertical trinocular, que pode fornecer qualidade de imagem superior e sistema operacional estável, fácil operação e acessórios completos. ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
... Mede o comprimento, largura e altura das partículas onde o Microscópio Motorizado funciona - exceto para o estágio de varredura e motorização do acionamento do foco - não são necessários. A óptica de alta resolução assegura que as partículas ...
Peso: 8, 20 kg
Comprimento: 410 mm
Largura: 219 mm
... O seu microscópio de luz reflectida de rotina para análise de materiais. Análise fiável de microestruturas e defeitos de materiais - em condições confortáveis Escolha a melhor configuração para a sua ...
... Usage: A série INSPECT de microscópio metalúrgico de medição é amplamente utilizada em embalagens de semicondutores, almofadas de solda, altura de laço, painéis de FPD (LCM), CSPS de nível de wafer e assim por diante. Características: ■ ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
Comprimento: 600 mm
Largura: 560 mm
Altura: 640 mm
... Fineza Utilizado para testar o diâmetro das fibras e o conteúdo de lã animal,loção e cânhamo;constituido por computador, microscópio de recolha de amostras. Standards:GB/T10685、GB/T16988、FZ/T30003、SN/T0756 Parâmetro técnico 1.Intervalo ...
... O Versamet 4 é um novo microscópio metalúrgico invertido concebido para suportar uma variedade de métodos de observação, incluindo brightfield, brightfield/darkfield, luz polarizada e DIC. Este microscópio versátil e ...
Ampliação : 10, 4, 100, 40 unit
Peso: 6,8 kg
Comprimento: 29,2 cm
... Este microscópio de investigação completo oferece construção durável, robusta e adaptabilidade com conforto ergonómico a um preço acessível. Numerosas características de alta qualidade, incluindo oculares e lentes objectivas protegidas ...
Ken-A-Vision
Ampliação : 2.500 unit - 6.000 unit
Peso: 10,8 kg
... superfície. Capte detalhes que outros microscópios não vêem A combinação da iluminação de várias direcções permite a observação clara de condições de superfície subtis que até agora eram impossíveis de ver com microscópios ...
... distribuição espacial e a evolução temporal do estado de magnetização em materiais e dispositivos magnéticos, e é adequado para testes e desenvolvimento de produtos de materiais magnéticos e dispositivos spintrónicos. O ...
Resolução espacial: 0,02 µm
... Visão geral do produto
O
microscópio de força atômica (AFM wafer-level) é um instrumento de sonda de varredura de alta resolução projetado para caracterizar a morfologia tridimensional de superfícies e propriedades multifuncionais ...
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