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Microscópio óptico Eclipse LV100ND
para inspeção de inclusões não metálicaspara inspeçãopara inspeção de wafers em linha

Microscópio óptico - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - para inspeção de inclusões não metálicas / para inspeção / para inspeção de wafers em linha
Microscópio óptico - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - para inspeção de inclusões não metálicas / para inspeção / para inspeção de wafers em linha
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Características

Tipo
óptico
Aplicações técnicas
para inspeção de inclusões não metálicas, para inspeção, para inspeção de wafers em linha, de laboratório, de medição, médico-hospitalar, para a pesquisa sobre materiais, para medição de profundidade, para medições em filmes finos, para medição sem contato de 3 eixos, industrial, metalúrgico, para controle da qualidade, multiusos
Ergonomia
vertical
Cabeça
trinocular, binocular
Técnica
de campo claro, de fluorescência, polarizado, com contraste de fase, de campo escuro, de infravermelho, de contraste interferencial diferencial
Configuração
de bancada
Fonte de luz
com iluminação LED, com iluminação coaxial
Outras características
de captura de imagens, com câmera digital, para topografia, para wafers, USB, de alta resolução, automático, de alta precisão, para inspeção de fibra óptica, para nanotecnologia, para grande distância de trabalho, ergonômico, modular, acústico de varredura, para integração em microscópio e profilômetro, para amostras planas, 3 eixos, de fácil instalação, com platina deslizante, de elevado contraste, de grande ampliação, com controle de intensidade luminosa, em tempo real, para amostras polidas, de tratamento de imagens, para semicondutor, motorizado, de alta definição, de temperatura variável, baixa temperatura, com iluminação especial, para identificação de amianto, com sistema de metrologia interferométrica de luz branca, econômico
Peso

9,5 kg
(20,9 lb)

Comprimento

657 mm
(25,9 in)

Largura

251 mm
(9,9 in)

Altura

506 mm
(19,9 in)

Descrição

As séries ECLIPSE LV100NDA e LV100ND de microscópios flexíveis, modulares e verticais da Nikon foram concebidas para técnicas de contraste óptico episcópico e diascópico. Os instrumentos podem ser fornecidos com acessórios de câmaras fotográficas digitais e são ideais para a inspecção de materiais em muitas aplicações industriais. Microscópios Modulares Motorizados e Manuais Upright A excelente óptica Nikon CFI60-2 fornece excelentes imagens tanto para as oculares como para as câmaras de imagem digital da Nikon com software de análise. O desenho universal do microscópio permite técnicas complementares de contraste óptico em conjunto num único suporte de microscópio graças a um programa modular de componentes. Nikon ECLIPSE LV100NDA e LV100ND Estes microscópios com iluminação episcopal e diascópica destinam-se à inspecção de materiais e componentes industriais, bem como a aplicações de investigação e desenvolvimento. Nikon CFI60-2 Série Óptica O desenho inovador da Nikon permite técnicas de imagem claras, incluindo contraste elevado, campo brilhante, campo escuro, polarização (POL), contraste de interferência diferencial (DIC) e contraste óptico de interferometria de feixe duplo. Nikon Digital Sight Cameras Todas as câmaras Nikon Digital Sight capturam eficazmente imagens de uma amostra e entregam-nas ao software de processamento de imagem do conjunto NIS-Elements, juntamente com os dados do microscópio sobre a lente objectiva utilizada, a regulação da ampliação e a intensidade luminosa.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.