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X-ray and CT Systems
sistema de inspeção por raios X
VOXLS 30 C series
3D
para tomografia computadorizada
CT
sistema de inspeção por raios X
VOXLS 20
CT
automático
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sistema de inspeção por raios X
VOXLS 40 C 450
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máquina de inspeção de raios X
XT H series
para tomografia computadorizada
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3D
máquina de inspeção de raios X
XT V 130
CND
para tomografia computadorizada
CT
máquina de inspeção de raios X
XT V 160
CND
para tomografia computadorizada
CT
Laser Radar Measuring Systems
sistema de medição tridimensional controlado por computador
APDIS MV4x0
portátil
para peças grandes
para aplicações automotivas
sistema de medição de posição
APDIS
de distância
de intervalo
a laser
sistema de medição de coordenadas
a laser
totalmente automático
robótico
Video Measuring Systems
sistema de medição de diâmetro
NEXIV VMZ-NWL200
de posição
de dimensões críticas
dimensional
sistema de medição de dimensões críticas
NEXIV VMF-K series
de distância
dimensional
óptico
sistema de medição de dimensões críticas
NEXIV VMZ-S
do campo de visão (FOV)
de distância
de coordenadas
sistema de medição de vídeo
iNEXIV VMA-2520
do campo de visão (FOV)
de distância
de coordenadas
sistema de medição de vídeo
iNEXIV VMA-4540
de coordenadas
de profundidade
3D
sistema de medição de vídeo
iNEXIV VMA-6555
de distância
de coordenadas
dimensional
Optical Manual Measuring
autocolimador visual
6 series
de alta velocidade
microscópio óptico
Eclipse LV100NDA
para inspeção
industrial
vertical
microscópio óptico
Eclipse LV100ND
para inspeção de inclusões não metálicas
para inspeção
para inspeção de wafers em linha
Industrial Microscopy
câmera digital
Digital Sight 100
industrial
de laboratório
para microscópio
estereomicroscópio óptico
SMZ-2
para análises
para inspeção
de laboratório
microscópio eletrônico
ECLIPSE L300N
para inspeção
para a indústria eletrônica
vertical
microscópio óptico
Eclipse L200N
para inspeção
para a indústria eletrônica
vertical
microscópio digital
Eclipse LV150NA
para inspeção
industrial
vertical
microscópio óptico
Eclipse LV150N
para inspeção
industrial
vertical
microscópio óptico
Eclipse Ci-POL
para inspeção de materiais
para inspeção de superfícies
para análises
sistema de manipulação com controle remoto
NWL200
automático
controlado por computador
com comando eletrônico
câmera digital
Digital Sight 10
para microscópio
para aplicações científicas
de infravermelho próximo
câmera digital
Digital Sight 1000
para microscópio
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Máquina de inspeção
Microscópio com iluminação LED
Sistema de inspeção automático
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Sistema de inspeção de alta resolução
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Máquina de inspeção para tomografia computadorizada
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Sistema de inspeção para a indústria metalúrgica
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Microscópio para amostras polidas
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Máquina de inspeção para semicondutor
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Estereomicroscópio de medição
Estereomicroscópio para semicondutor
Máquina de medição tridimensional sem contato
Máquina de medição tridimensional para controle da qualidade
Sistema de inspeção de geometria
Projetor de perfil de grande tela
Máquina de inspeção de alta cadência
Estereomicroscópio para controle da qualidade
Estereomicroscópio para análises
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Microscópio para nanotecnologia
Estereomicroscópio acromático
Objetiva de microscópio para microscopia
Componente ótico modular
Microscópio para geologia
Estereomicroscópio de fluorescência
Estereomicroscópio para a indústria automotiva
Estereomicroscópio para a indústria aeroespacial
Sistema de inspeção para a indústria aeronáutica
Microscópio Siedentopf
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Microscópio com objetiva plana
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Sistema de medição de profundidade
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