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Máquina de inspeção de raios X XT V 160
CNDpara tomografia computadorizadaCT

Máquina de inspeção de raios X - XT V 160 - Nikon Metrology - CND / para tomografia computadorizada / CT
Máquina de inspeção de raios X - XT V 160 - Nikon Metrology - CND / para tomografia computadorizada / CT
Máquina de inspeção de raios X - XT V 160 - Nikon Metrology - CND / para tomografia computadorizada / CT - imagem - 2
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Características

Tecnologia
de raios X, CND, para tomografia computadorizada, CT
Aplicações
de PCB, para semicondutor
Setor
industrial, para a indústria eletrônica
Outra característica
automática, de medição, de alta resolução

Descrição

Resumo do produto
A série XT V da Nikon inclui sistemas de inspeção por raio X e TC para ensaios não destrutivos de componentes eletrónicos como PCB, BGA e chips. A série combina fontes Xi microfoco com o software Inspect-X e dispõe de opções como Low Dose Collimator e ESD Safety Upgrade para inspeção por lotes e proteção de dispositivos sensíveis.

Principais características
  • Inspeção de alta resolução para PCB, BGA, fios de ligação (bond wires), PTH e embalagens complexas.
  • Fluxos de inspeção automatizados com Inspect-X e PCB Analysis Suite para programas rápidos de aprovação/rejeição e relatórios.
  • Configuração vertical com manipulador preciso e controlo por joystick para rotação de 360° e movimento inteligente que mantém a região de interesse no campo de visão.
  • Evita colisões automaticamente e interfaces orientadas ao operador para operação mais segura.
  • Opção Low Dose Collimator para minimizar a exposição a raios X em semicondutores sensíveis e permitir inspeções de lotes maiores.
  • Opção ESD Safety Upgrade para proteção ESD em conformidade com padrões industriais durante a inspeção.
  • Fontes Xi microfoco com Diamond Window e design de tubo aberto com filamentos substituíveis.
  • Melhorias de imagem incluindo High Contrast Filter 2.0 para revelar detalhes em áreas de alto e baixo contraste.


Destaques do produto
  • Produtivo — configuração rápida de inspeções automatizadas com Inspect-X e medições avançadas para BGA, bond wires e embalagens complexas.
  • Seguro — proteção contínua através de prevenção automática de colisões, Low Dose Collimator e opção ESD Safety Upgrade.
  • Fácil de usar — configuração vertical com imager inclinável e manipulador intuitivo para vistas oblíquas extremas e rotação de 360°.
  • Qualidade de dados — fontes Xi microfoco com Diamond Window e gerador integrado para operação fiável.
  • Processamento de imagem potente — High Contrast Filter 2.0 para análise de defeitos mais rápida e precisa.


Especificações (resumo)
Modelos — XT V 160 | XT V 130C
kV máximo — 160 kV | 130 kV
Fonte de raios X — Tubo aberto com filamentos substituíveis (Xi microfoco) | Tubo aberto com filamentos substituíveis (Xi microfoco)
Gerador de alta tensão — Gerador integrado (sem manutenção de cabo HV) | Gerador integrado (sem manutenção de cabo HV)
Reconhecimento de características — Submicron (XT V 160) | Nível micron (XT V 130C)
Faixa de ângulo de visualização — Até 82° em qualquer direção (XT V 160) | Até 79° em qualquer direção (XT V 130C)
Bandeja de amostras — Bandeja em fibra de carbono, Ø 580 mm | Bandeja em fibra de carbono, Ø 580 mm
Dimensões do gabinete (L x P x A) — 1.260 x 1.789 x 1.904 mm | 1.260 x 1.789 x 1.904 mm
Peso do sistema — 2.100 kg | 2.100 kg
Segurança ESD — Opção ESD Safety Upgrade (proteção conforme padrões industriais) | Opção ESD Safety Upgrade (proteção conforme padrões industriais)
Aplicações principais — Inspeção automática e em tempo real de eletrónica e semicondutores para P&D, QA/QC e análise de falhas | Inspeção eletrónica em tempo real

Aplicações industriais
  • Eletrónica — deteção de defeitos em BGA, análise de integridade de bond wires, inspeção por lotes de PCB e fluxos automatizados de aprovação/reprovação.
  • Semicondutores — inspeção ESD‑safe e fluxos de baixa dose para dispositivos sensíveis; visibilidade melhorada com High Contrast Filter 2.0.
  • Laboratórios de qualidade — automação, cortes transversais virtuais (X.Tract) para análises detalhadas e manuseio ampliado de amostras com Heavy Duty Tray.
  • P&D — braço CT de alta ampliação e imagens avançadas para desenvolvimento e análise de falhas.


Perguntas frequentes (resumo)
  • Principais benefícios: melhor resolução de imagem e ampliação, flexibilidade no manuseio de amostras e opções de proteção para componentes sensíveis (ESD e controlo de dose).
  • Importância do ESD Safety Upgrade: previne danos por descarga eletrostática e ajuda a cumprir normas ESD industriais.
  • Papel do Low Dose Collimator: minimiza a exposição do feixe primário e protege áreas não inspeccionadas para permitir inspeções por lotes maiores.
  • Adequação à eletrónica: concebido especificamente para inspeção não destrutiva de componentes eletrónicos com fontes Xi, Inspect-X e controlo de movimento de precisão.


Especificações técnicas
  • Série / Modelo: XT V Series (XT V 160, XT V 130C)
  • Tensão máxima do tubo: 160 kV (XT V 160) / 130 kV (XT V 130C)
  • Fonte de raios X: Xi microfoco, tubo aberto com filamentos substituíveis
  • Gerador HV: Gerador integrado (sem manutenção de cabo HV)
  • Reconhecimento de características: Submicron (XT V 160) / nível micron (XT V 130C)
  • Faixa de visão: Até 82° (XT V 160) / Até 79° (XT V 130C)
  • Bandeja de amostras: Fibra de carbono, Ø 580 mm
  • Dimensões (L×P×A): 1.260 × 1.789 × 1.904 mm
  • Peso do sistema: aprox. 2.100 kg
  • Software: Inspect-X, PCB Analysis Suite, X.Tract
  • Melhorias de imagem: High Contrast Filter 2.0
  • Opções: Low Dose Collimator, ESD Safety Upgrade, High Magnification CT Arm, Heavy Duty Tray

VÍDEO

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.