Microscópio STEM HF5000
para a pesquisa sobre materiaispara análise de materiaisde metrologia

Microscópio STEM - HF5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - para a pesquisa sobre materiais / para análise de materiais / de metrologia
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Características

Tipo
STEM
Aplicações técnicas
de metrologia, para a pesquisa sobre materiais, para análise de materiais
Técnica
BF-STEM, DF-STEM, in situ
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo frio
Lente
com corretor de aberração
Tipo de detector
de elétrons secundários
Outras características
de alta resolução, automático, para semicondutor, para nanotecnologia, de grande ampliação
Ampliação

MÍN: 20 unit

MÁX: 8.000.000 unit

Resolução espacial

0,08 nm, 0,1 nm

Descrição

O HF5000 é um S/TEM com correção de Cs, personalizável para experiências in-situ. A caraterística especial é proporcionada pelo detetor Everhart Thornley SE, que capta imagens da superfície da amostra a 60-200kV, tal como num SEM. Isto é particularmente vantajoso para experiências in-situ de gás e aquecimento, nas quais o gás reage com a superfície da amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor Cs totalmente automatizado, mesmo para principiantes no campo do TEM. Caraterísticas do produto: - Fonte de electrões de emissão de campo frio com emissão de banda energeticamente estreita, ideal para imagens de alta resolução e EELS - Corretor de Cs Hitachi STEM, totalmente automatizado - Detetor de electrões secundários para informação sobreposta na superfície da amostra em correlação com o sinal dos electrões transmitidos - Experiências ETEM possíveis, por exemplo, numa atmosfera gasosa aberta

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.