Microscópio SEM TM4000PlusIII

de mediçãopara análisespor contraste topográfico

Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço de tempo possível com boa resolução, profundidade de campo e contraste entre diferentes materiais. Tudo isto sem uma preparação demorada (sem revestimento). Se necessário, também é possível determinar a composição química e a distribuição dos elementos. A navegação fácil na plataforma de amostras motorizada X,Y é efectuada através de uma visão geral fotográfica a cores, com zoom, gerada automaticamente. Esta pode ser complementada localmente por fotografias SEM. Caraterísticas do produto: - EDX com tamanho de sensor de 30mm2 ou 60mm2 pode ser totalmente integrado, comutação imediata entre observação e análise de elementos - 4 tensões de aceleração 5 | 10 | 15 | 20kV com 5 modos de corrente de sonda cada - Câmara ótica de navegação a cores - 3 estágios de pressão da câmara - detetor de electrões retrodifundidos de 4 segmentos - Leitura da corrente de sonda e funcionalidade IFT