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Microscópio SEM TM4000 series
para análisesde mediçãopor contraste de número atômico

microscópio SEM
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Características

Tipo
SEM
Aplicações técnicas
para análises, de medição
Técnica de observação
por contraste de número atômico, por contraste topográfico
Configuração
de bancada, compacto
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
Outras características
de fácil instalação, com câmera digital, de alta resolução, automático, de tratamento de imagens, de baixo custo, motorizado, para as ciências da terra, para nanotecnologia, para utilização em ar ou líquidos, para topografia, com função de perfilometria, de varredura com pressão variável, para integração em microscópio e profilômetro, para identificação de amianto, para amostras planas, de elevado contraste, para amostras polidas, de grande ampliação
Ampliação

MÁX: 25.000.054 unit

MÍN: 10 unit

Peso

54 kg
(119 lb)

Comprimento

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Largura

330 mm
(13 in)

Altura

547 mm
(21,5 in)

Descrição

A Série TM4000 apresenta inovação e tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio de mesa. Esta nova geração dos microscópios de mesa Hitachi (TM) de longa data integra a facilidade de utilização, a otimização da imagem e a elevada qualidade de imagem, mantendo o design compacto dos produtos bem estabelecidos da Série TM da Hitachi. Experimente a nova dimensão dos microscópios de mesa com o Hitachi TM4000 II e TM4000Plus II. Uma imagem de qualidade pode ser obtida com passos simples. Automação, observação e análise elementar Fácil de mudar de imagem com um só clique. Rápida aquisição de mapas elementares * Amostra: Movimento do relógio Operação intuitiva no Camera Navi * A utilização de imagens ópticas ajuda a navegar facilmente para a área de observação alvo. As imagens SEM obtidas podem ser colocadas em camadas numa imagem SEM MAP. Criador de relatórios Basta selecionar imagens e um modelo para criar relatórios personalizados. Os relatórios criados podem ser guardados/editados em formatos do Microsoft Office®. Várias aplicações de imagiologia que utilizam o estado de vácuo baixo de 4 subgraus. Modo de redução de carga A carga de uma amostra pode ser reduzida com um só clique. Captura de imagens de uma variedade de materiais em condições de baixo vácuo As imagens mostram observações de amostras não condutoras, tais como partículas de toner de tinta e uma superfície de folha hidratada. Detetor inovador de seleção secundária para obter detalhes de superfície com amostras não condutoras em condições de baixo vácuo O TM4000Plus II pode observar não só amostras condutoras, mas também amostras não condutoras ou hidratadas sem preparação de amostras. A comutação entre BSE e SE pode ser efectuada facilmente.

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Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr 2024 Stuttgart (Alemanha) Stand 7103

  • Mais informações
    The Advanced Materials Show

    15-16 mai 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Mais informações

    Outros produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.