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Microscópio eletrônico de varredura (MEV) SU series
para medição da rugosidade de superfíciespara análisespara pesquisa

microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
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Características

Tipo
eletrônico de varredura (MEV)
Aplicações técnicas
para medição da rugosidade de superfícies, para análises, para pesquisa, para componentes eletrônicos, para inspeção de superfícies, para inspeção de materiais, industrial, metalúrgico, para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais, para a indústria farmacêutica, multiusos, para cerâmica
Configuração
de piso
Tipo de detector
de elétrons secundários, de elétrons retroespalhados
Outras características
para semicondutor, de alta resolução, automático, de varredura com pressão variável, para amostras planas, para amostras polidas, para topografia, para nanotecnologia, para identificação de amianto, para as ciências da terra, para aplicações em micro-imagens
Ampliação

MÍN: 5 unit

MÁX: 800.000 unit

Resolução espacial

3 nm, 4 nm, 15 nm

Descrição

Desempenho e Potência numa Plataforma Flexível Os microscópios electrónicos de varrimento SU3800/SU3900 da Hitachi High-Tech proporcionam operacionalidade e capacidade de expansão. O operador pode automatizar muitas operações e utilizar eficientemente o seu elevado desempenho. O SU3900 está equipado com uma grande câmara de amostras multiusos para acomodar a observação de grandes amostras. 1.A câmara de amostras substancialmente maior acomoda amostras de grandes dimensões e pesadas palco robusto para flexibilidade no tamanho, forma e peso da amostra - A sequência de troca de amostras evita possíveis danos ao sistema ou à amostra. - Troque as amostras sem ventilar a câmara de amostras, melhorando o rendimento. - Aumenta a manipulação de amostras com o Modo Livre de Estágio*. - O Chamber Scope aumenta a segurança dos movimentos da plataforma*. área de visualização aumentada - o SEM MAP expande os limites da navegação de amostras - Ecrã de câmara integrado na câmara - Navegue facilmente por toda a área observável - Rotação orientada para o detetor 2.Evolução do mercado - Funções automáticas melhoradas para operadores de qualquer nível de competência múltiplos modos de funcionamento funções automáticas para operadores de qualquer nível de competência Algoritmos automáticos melhorados - 3 vezes mais rápidos (em comparação com o modelo Hitachi S-3700N) Função de focagem automática melhorada Características da nossa Tecnologia de Filamento Inteligente (IFT) patenteada: ■Multi Zigzag permite uma observação alargada em várias áreas. o Report Creator gera relatórios dos dados adquiridos. 3.Soluções integradas para várias aplicações uma variedade de acessórios que podem ser montados em qualquer uma das 20 portas da inovadora câmara de espécimes SU3900. sistema de integração SEM/EDS*

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Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr 2024 Stuttgart (Alemanha) Stand 7103

  • Mais informações
    The Advanced Materials Show

    15-16 mai 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Mais informações

    Outros produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.