Microscópio eletrônico de varredura (MEV) SU3800/3900 Family

para medição da rugosidade de superfíciespara análisespara pesquisa

A família SU3800/3900 VP-SEM centra-se na produtividade. Estas ferramentas automatizam tarefas repetitivas, para que possa obter resultados reprodutíveis num curto espaço de tempo e com pouco esforço manual. Estão disponíveis duas câmaras de amostras diferentes com ótica de emissão de campo de tungsténio ou Schottky. Tanto o SU3800 como o SU3900 possuem software, eletrónica e plataforma de detetor comuns. Caraterísticas do produto: - Detectores Hitachi de elevada eficiência: -- Detetor de electrões secundários para alto vácuo -- Detetor de electrões retrodifundidos de semicondutor de 5 segmentos para alto e baixo vácuo, seleção de diferentes modos de sinal, como contraste de material, topografia de superfície, 3D -- Detetor multifunções opcional "UVD": Electrões secundários em baixo vácuo, cátodo sinal de luminescência, transmissão (STEM, em conjunto com um suporte de amostras especial) - Ótica de electrões moderna e sem campo, opcionalmente com emissor de campo Schottky ou com cátodos de tungsténio robustos, económicos e, graças ao controlo inteligente, de longa duração - Manuseamento fácil, mesmo de amostras não condutoras de eletricidade, com o modo de funcionamento eficaz de baixo vácuo integrado, que pode ser comutado com um clique no rato, se necessário - Para uma visão geral perfeita: As imagens de navegação a cores das placas de amostra cobrem toda a área da amostra observável por SEM - Operação despreocupada - as colisões entre a platina e os componentes do MEV são virtualmente eliminadas através da aplicação automática de uma limitação de curso de alcance dinâmico