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Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SU7000
para análisesin situBF-STEM

microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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Características

Tipo
eletrônico de varredura por emissão de campo
Aplicações técnicas
para análises
Técnica de observação
BF-STEM, DF-STEM, in situ
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
de elétrons secundários, de elétrons retroespalhados
Outras características
para nanotecnologia, para aquisição simultânea, de ultra-alta resolução
Ampliação

MÍN: 20 unit

MÁX: 2.000.000 unit

Resolução espacial

0,8 nm, 0,9 nm

Descrição

O FE-SEM moderno requer não só um elevado desempenho, mas também uma multiplicidade de funcionalidades, incluindo a observação de uma vasta área, a análise in situ, a pressão variável, a obtenção de imagens de alta resolução a baixas tensões de aceleração e a recolha simultânea de múltiplos sinais. O SU7000 foi concebido para abordar estes aspectos e muito mais, fornecendo informações melhoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Experimente o nano-mundo com o SU7000! Capacidade versátil de aquisição de imagens O SU7000 destaca-se pela aquisição rápida de múltiplos sinais para responder às necessidades expansivas do SEM, desde a obtenção de imagens de um campo de visão alargado até à visualização de estruturas sub-nanométricas e tudo o que está entre elas. A incorporação de sistemas de deteção e ótica de electrões recentemente concebidos permite a aquisição simultânea eficiente de múltiplos sinais de electrões secundários e de electrões retrodifundidos. Aquisição de imagens multi-canal O número de detectores montados no SEM está sempre a aumentar, juntamente com a necessidade de apresentar eficazmente toda a informação recolhida. O SU7000 é capaz de processar, apresentar e guardar até 6 sinais em simultâneo para maximizar a aquisição de informação. Grande variedade de técnicas de observação A câmara de amostras e o sistema de vácuo estão optimizados para: - Tamanho de amostra grande - Manipulação de amostras em vários eixos - Condições de pressão variáveis - Condições criogénicas - Aquecimento e arrefecimento na observação in-situ

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Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 abr 2024 Stuttgart (Alemanha) Stand 7103

  • Mais informações
    The Advanced Materials Show

    15-16 mai 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Mais informações

    Outros produtos Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.