Microscópio eletrônico de varredura (MEV) FlexSEM II
multiusospara análisespara inspeção de inclusões não metálicas

Microscópio eletrônico de varredura (MEV) - FlexSEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - multiusos / para análises / para inspeção de inclusões não metálicas
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Características

Tipo
eletrônico de varredura (MEV)
Aplicações técnicas
para inspeção de materiais, para inspeção de inclusões não metálicas, para análises, para biomedicina, para medição da rugosidade de superfícies, metalúrgico, para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais, multiusos
Configuração
de bancada, compacto, de piso
Fonte de elétrons
de emissão termiônica
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
Outras características
motorizado, de alta resolução, automático, de fácil instalação, de varredura com pressão variável, para amostras planas, para topografia, para amostras polidas, para identificação de amianto, de elevado contraste, para nanotecnologia, de alta precisão, de grande ampliação
Ampliação

MÍN: 6 unit

MÁX: 800.000 unit

Resolução espacial

4 nm, 15 nm

Peso

107 kg
(235,9 lb)

Comprimento

795 mm
(31,3 in)

Largura

450 mm
(17,7 in)

Altura

690 mm
(27,2 in)

Descrição

O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho de imagem e a variabilidade do detetor. Caraterísticas do produto: - 4nm @ 20kV Ótica de electrões de alta resolução com energias de feixe entre 300eV e 20keV - Alto e baixo vácuo ajustável até 100Pa - Detetor de retrodifusão SE e de 4+1 segmentos de série, SE de baixo vácuo opcional (UVD); também pode ser utilizado para imagens de catodoluminescência e STEM, câmara de navegação ótica a cores e câmara-cópio - plataforma de amostras de 5 eixos para amostras até um máx. 153 mm de diâmetro e 40 mm de altura

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