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Microscópio eletrônico de varredura (MEV) FlexSEM IImultiusospara análisespara inspeção de inclusões não metálicas
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Características
- Tipo
- eletrônico de varredura (MEV)
- Aplicações técnicas
- para inspeção de materiais, para inspeção de inclusões não metálicas, para análises, para biomedicina, para medição da rugosidade de superfícies, metalúrgico, para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais, multiusos
- Configuração
- de bancada, compacto, de piso
- Fonte de elétrons
- de emissão termiônica
- Tipo de detector
- de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
- Outras características
- de alta resolução, automático, motorizado, de fácil instalação, de grande ampliação, de elevado contraste, de varredura com pressão variável, para amostras planas, para amostras polidas, para topografia, para identificação de amianto, para nanotecnologia, de alta precisão
- Ampliação
MÍN: 6 unit
MÁX: 800.000 unit
- Resolução espacial
4 nm, 15 nm
Descrição
O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer comprometer o desempenho de imagem e a variabilidade do detetor.
Caraterísticas do produto:
- 4nm @ 20kV Ótica de electrões de alta resolução com energias de feixe entre 300eV e 20keV
- Alto e baixo vácuo ajustável até 100Pa
- Detetor de retrodifusão SE e de 4+1 segmentos de série, SE de baixo vácuo opcional (UVD); também pode ser utilizado para imagens de catodoluminescência e STEM, câmara de navegação ótica a cores e câmara-cópio
- plataforma de amostras de 5 eixos para amostras até um máx. 153 mm de diâmetro e 40 mm de altura
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Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.