Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SU8600

para análises3Dde emissão de campo frio

O SU8600 é o sucessor da comprovada família de SEM de emissão de campo Regulus e cumpre os mais elevados requisitos para aplicações orientadas para a obtenção de imagens. O emissor de campo frio com a sua emissão quase monocromática, combinado com uma lente de imersão magnética, elimina a necessidade de aumentar o feixe. Assim, proporciona uma resolução superior mesmo com energias de feixe baixas, juntamente com uma separação de sinal estável e exacta por ângulo de feixe e energia. O SU8600 CFE-SEM também proporciona um desempenho de topo em trabalhos analíticos utilizando detectores específicos. Por exemplo, é possível adicionar detectores EDX sem janela para uma análise óptima de elementos leves. Estes podem ser utilizados com o SU8600 em toda a gama de energia do feixe até 30keV, e nas distâncias de trabalho mais curtas a partir de 4 mm devido à lente de imersão magnética. Ou pode combinar o SEM com o detetor Bruker FlatQuad EDX com mais de 1sr de ângulo sólido para máxima eficiência de sinal. Estão disponíveis correntes de amostragem até 20nA. Caraterísticas do produto: - Emissor de campo Hitachi muito durável, quase monocromático, combinado com lentes de imersão magnética - Sistema de detetor extenso e configurável de forma flexível com filtragem de energia fina, juntamente com o ecrã de imagem de 6 canais em direto, permite uma avaliação abrangente da amostra - Harmoniza-se bem com detectores EDX sem janela - Funções fiáveis e automatizadas significam um SEM fácil de utilizar e de elevado desempenho. Estas funções incluem o ajuste das condições de observação definidas pelo utilizador, a excelente focagem automática 2D e o estigma automático, etc. - A câmara de troca de amostras permite o carregamento rápido e limpo de amostras até 150 mm de diâmetro. A plataforma de espécimes eucêntrica de 5 eixos tem intervalos de deslocação X,Y de 110 mm x 110 mm