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Espectrômetro de raios X Element series
EDXpara análises elementaresde bancada

espectrômetro de raios X
espectrômetro de raios X
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Características

Tipo
de raios X, EDX
Âmbito de utilização
para análises elementares
Configuração
de bancada
Detector
SDD

Descrição

As séries Element são sistemas EDX produzidos pela EDAX Instruments. A janela Si3N4 SDD melhora a velocidade de mapeamento e os limites de deteção. Janela Si3N4 Janela Si3N4 para otimizar a transmissão de raios X de baixa energia para análise de elementos leves. Janela de detetor convencional, melhora a velocidade de mapeamento e o limite de deteção.

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Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

The Advanced Materials Show

15-16 mai 2024 Birmingham (Reino Unido)

  • Mais informações

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    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.