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Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo Apreo ChemiSEM
para análisespara inspeção de inclusões não metálicasdidático

Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo - Apreo ChemiSEM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - para análises / para inspeção de inclusões não metálicas / didático
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Características

Aplicações técnicas
para inspeção de inclusões não metálicas, para inspeção de materiais, para inspeção de aço, para análises, para pesquisa, industrial, didático, para a indústria aeroespacial, para a indústria química, metalúrgico, para controle da qualidade, para geologia, para a pesquisa sobre materiais, para bateria, para análise de materiais, para materiais, para a indústria automotiva
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários, de pressão variável SE, EBSD, por catodoluminescência, com detector de energia dispersiva de raios X (EDS)
Opções e acessórios
assistido por computador
Outras características
automático, para grande distância de trabalho, de tratamento de imagens, correlativo, para aquisição simultânea

Descrição

Visão geral
O Thermo Scientific Apreo ChemiSEM System é um microscópio eletrônico de varredura analítico (SEM) que fornece resolução nanométrica e sub‑nanométrica a uma distância de trabalho analítica de 10 mm. A fonte Field Emission Gun (FEG) e a óptica avançada permitem imagens de alta resolução de materiais sensíveis ao feixe, compósitos, amostras magnéticas e nanomateriais, mantendo desempenho analítico integrado para análise estruturural e composicional correlacionada.

Capacidades analíticas integradas
A tecnologia ChemiSEM integra a imagem SEM com espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) para oferecer mapeamento elementar quantitativo em tempo real. O sistema também suporta EBSD para análise cristalográfica e de orientação, permitindo fluxos de trabalho multimodais que combinam dados morfológicos, elementares e cristalográficos.

Principais características do sistema
  • Field Emission Gun (FEG) para imagens de alta resolução em escalas nanométricas e sub‑nanométricas.
  • Distância de trabalho analítica: 10 mm, otimizada para desempenho integrado SEM/EDS/EBSD.
  • EDS integrado para mapeamento elementar quantitativo em tempo real; suporte EBSD para análise cristalográfica.
  • Óptica autoalinhante e tecnologia SmartAlign para manter alinhamento automático e prontidão para imageamento.
  • Smart Frame Integration (SFI) em tempo real para otimizar dinamicamente as configurações dos detectores e obter imagens de alta qualidade.
  • Recursos de automação incluindo autofocus e autostigmation para reduzir ajustes manuais e acelerar aquisições.
  • Várias opções de detectores: detector de elétrons secundários Everhart‑Thornley, detector de elétrons retroespalhados, detector de catodoluminescência e opções de baixo vácuo para amostras sensíveis ao feixe.
  • Lente final eletrostática com imersão magnética opcional para necessidades de resolução máxima.
  • Grande palco motorizado com suporte para múltiplas amostras e bombeamento rápido para melhorar o rendimento e a produtividade do operador.


Aplicações
O Apreo ChemiSEM System é adequado para ciências dos materiais e P&D industrial, incluindo caracterização de compósitos, polímeros, nanomateriais, materiais catalíticos, amostras magnéticas e outros espécimes sensíveis ao feixe ou carregados. A operação em baixa tensão de aceleração permite caracterização de superfícies delicadas.

Recursos e mídia
Recursos disponíveis incluem brochuras para download, galeria de imagens e um vídeo de introdução apresentando as capacidades do sistema (título do teaser: "Introducing the new Apreo ChemiSEM System").

Notas
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.

Especificações técnicas
  • Nome comercial: Apreo ChemiSEM System
  • Fabricante / marca: Thermo Scientific
  • Fonte de elétrons: Field Emission Gun (FEG)
  • Distância de trabalho analítica: 10 mm
  • Técnicas integradas: imageamento SEM, EDS (espectroscopia de raios X por dispersão de energia), suporte EBSD
  • Mapeamento elementar quantitativo em tempo real via ChemiSEM Technology
  • Detectores: detector SE Everhart‑Thornley, detector de elétrons retroespalhados, detector de catodoluminescência, opções de baixo vácuo
  • Melhorias de imagem: Smart Frame Integration (SFI), SmartAlign, autofocus, autostigmation
  • Óptica: lente final eletrostática com opção de imersão magnética
  • Manuseio de amostras: grande palco, suporte múltiplo de amostras, bombeamento rápido
  • Tipos de amostras adequadas: materiais sensíveis ao feixe, polímeros, compósitos, amostras magnéticas, nanomateriais

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