Microscópios Hitachi

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microscópio eletrônico de transmissão e varredura
microscópio eletrônico de transmissão e varredura
SU9000 II

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU8700

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... produto: - Emissor de campo Hitachi Schottky durável e estável com corrente de sonda até 200nA - Brilhante desempenho de imagem - sem necessidade de um campo de desaceleração na amostra - de 100V (opção de 10V) até 30kV de tensão de aceleração. ...

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microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU8600

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm

... canais em direto, permite uma avaliação abrangente da amostra - Harmoniza-se bem com detectores EDX sem janela - Funções fiáveis e automatizadas significam um SEM fácil de utilizar e de elevado desempenho. Estas funções ...

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microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU7000

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm

... , secções em série de micrótomo, etc.). Equipado, tal como o SU8700, com a ótica universal de electrões de alta resolução e sem campo da Hitachi (constituída por um emissor Schottky e um amplificador de feixe), o SU7000 possui também ...

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microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
SU3800/3900 Family

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... sinal de luminescência, transmissão (STEM, em conjunto com um suporte de amostras especial) - Ótica de electrões moderna e sem campo, opcionalmente com emissor de campo Schottky ou com cátodos de tungsténio robustos, económicos e, graças ...

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microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
FlexSEM II

Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...

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microscópio SEM
microscópio SEM
TM4000PlusIII

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit

... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...

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microscópio STEM
microscópio STEM
HF5000

Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm

... O HF5000 é um S/TEM com correção de Cs, personalizável para experiências in-situ. A caraterística especial é proporcionada pelo detetor Everhart Thornley SE, que capta imagens da superfície da amostra a 60-200kV, tal como num SEM. Isto é particularmente ...

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microscópio eletrônico de transmissão (MET)
microscópio eletrônico de transmissão (MET)
HT7800 Series

Ampliação : 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Resolução espacial: 0,2, 0,14, 0,19 nm

... A família HT7800 suporta uma vasta gama de aplicações, desde as ciências da vida à ciência dos materiais. Está disponível em três variantes diferentes de pólos, sempre com base na nossa lente objetiva patenteada para alternar rapidamente entre alto contraste ...

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microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU3800SE/SU3900SE

Ampliação : 5 unit - 600.000 unit
Resolução espacial: 2,5, 0,9 nm

... emissão de campo Schottky oferece um elevado desempenho de imagem sem interferências magnéticas ou eléctricas. O modo de pressão variável permite a observação de amostras não condutoras sem preparação adicional. O alinhamento ...

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