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Microscópios por contraste topográfico
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Ampliação : 10 unit - 250.000 unit
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microscópio de força atômica
Resolução espacial: 0,02 µm
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O
microscópio de força atômica (AFM wafer-level) é um instrumento de sonda de varredura de alta resolução projetado para caracterizar a morfologia tridimensional de superfícies e propriedades multifuncionais ...
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