Microscópios para topografia

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microscópio de raios X
microscópio de raios X
Phenom Pure G6

Ampliação : 160 unit - 175.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 15 nm
Peso: 50 kg

... modelo mais avançado, combinando todas as caraterísticas do Phenom Pro G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. Caraterísticas SEM de secretária com uma fonte de electrões duradoura ...

microscópio de raios X
microscópio de raios X
Phenom ParticleX TC

Ampliação : 160 unit - 200.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... especialmente em ambientes de fabrico exigentes como o automóvel. Em comparação com os microscópios ópticos tradicionais, o nosso Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM não só permite realizar uma análise de ...

microscópio opto-digital
microscópio opto-digital
DVM6

... Microscópio digital para análise de falhas, garantia e controlo de qualidade, investigação e desenvolvimento ou investigação forense. A excelente óptica, manuseamento intuitivo e software inteligente permite ao utilizador obter resultados ...

microscópio eletrônico de transmissão e varredura
microscópio eletrônico de transmissão e varredura
SU9000 II

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
SU3800/3900 Family

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... semicondutor de 5 segmentos para alto e baixo vácuo, seleção de diferentes modos de sinal, como contraste de material, topografia de superfície, 3D -- Detetor multifunções opcional "UVD": Electrões secundários em baixo vácuo, cátodo ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
FlexSEM II

Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...

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microscópio eletrônico de varredura (MEV)
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JSM-IT810

... medições EBSD) e a reconstrução de superfície Live 3D para observação da topografia da superfície. A operação de um FE SEM nunca foi tão fácil com a série JSM-IT810. A observação SEM e a análise EDS ...

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Jeol
microscópio óptico
microscópio óptico
Eclipse LV100ND

Peso: 9,5 kg
Comprimento: 657 mm
Largura: 251 mm

... industriais. Microscópios Modulares Motorizados e Manuais Upright A excelente óptica Nikon CFI60-2 fornece excelentes imagens tanto para as oculares como para as câmaras de imagem digital da Nikon com software de análise. O desenho universal ...

microscópio óptico
microscópio óptico
UP-5000

Resolução espacial: 0,01 nm

... de resolução nanométrica. Diferente de qualquer outro microscópio ótico O UP-5000 possui uma combinação 6 em 1 de muitas técnicas ópticas numa única plataforma. Como resultado, o nosso microscópio ótico permite a medição ...

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RTEC Instruments
microscópio de força atômica
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LensAFM

... significam que basta rodar a torre do seu microscópio ótico ou profilómetro e executar o exame. Melhore a sua microscopia ótica com AFM para obter informações avançadas Uma vez que a resolução da microscopia ...

microscópio SEM
microscópio SEM

... fornece a documentação da superfície de um componente para revelar irregularidades. Microscópio Eletrônico de Varredura | SEM | Microfone | CNC Tooling Um Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) é ...

microscópio óptico
microscópio óptico
CM EXPLORER

... produção. Tarefas de medição típicas • Medições de rugosidade conforme • ISO 4287 e ISO 13565 / ISO 25178 • Medições de topografia (entre outros, volume, desgaste, tribologia) • Contorno e forma (2D, 3D) • Análise de poros, ...

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