Microscópio SEM Phenom Pure G6
para controle da qualidadepara a pesquisa sobre materiaisde secretária

microscópio SEM
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Características

Tipo
SEM
Aplicações técnicas
para controle da qualidade, para a pesquisa sobre materiais
Configuração
de secretária
Fonte de elétrons
CeB6
Tipo de detector
de elétrons secundários, de elétrons retroespalhados
Outras características
de alta resolução, automático, motorizado, para topografia
Ampliação

MÍN: 160 unit

MÁX: 175.000 unit

Resolução espacial

MÍN: 0 nm

MÁX: 15 nm

Descrição

O SEM de secretária é económico e fácil de utilizar, com funcionalidades de automatização fiáveis. O microscópio eletrónico de varrimento (SEM) de secretária Thermo Scientific Phenom Pure é uma ferramenta ideal para a transição da microscopia ótica de luz para a microscopia eletrónica. É uma solução económica para a obtenção de imagens de alta resolução, proporcionando os melhores resultados de imagem da sua classe. O MEV Phenom Pure Desktop fornece imagens de alta qualidade graças à fonte CeB6 de alta luminosidade e longa duração, e oferece o tempo de carregamento e imagem mais rápido do mercado. A focagem automática muito fiável e os alinhamentos automáticos da fonte fazem deste o sistema mais fácil de utilizar do mercado. Navegação nunca perdida O utilizador sabe sempre a posição na amostra com a exclusiva navegação nunca perdida. As visões gerais das imagens ópticas e electronópticas fornecem pontos de referência claros em todos os momentos. Graças à plataforma motorizada integrada, pode navegar rapidamente através da sua amostra. Fácil de utilizar Os utilizadores estão prontos para tirar imagens após apenas 10 minutos de formação básica. Está disponível uma grande variedade de suportes de amostras para acomodar uma grande variedade de amostras. O carregamento de amostras é rápido e seguro devido à nossa tecnologia patenteada de carregamento de amostras por vácuo. Personalize seu MEV O Phenom Pure Desktop SEM pode ser equipado com dois sistemas de detectores opcionais. O primeiro é um sistema de espetroscopia de energia dispersiva (EDS) totalmente integrado. O segundo é um detetor de electrões secundários (SED) para aplicações que requerem imagens sensíveis à superfície e à topografia.

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Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.