Microscópio de raios X Phenom ParticleX TC
multiusospara análisesindustrial

Microscópio de raios X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusos / para análises / industrial
Microscópio de raios X - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - multiusos / para análises / industrial
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Características

Tipo
de raios X
Aplicações técnicas
para análises, industrial, multiusos
Configuração
de secretária, compacto
Fonte de elétrons
CeB6
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários
Outras características
automático, para topografia
Ampliação

MÍN: 160 unit

MÁX: 200.000 unit

Resolução espacial

MÍN: 0 nm

MÁX: 10 nm

Peso

75 kg
(165,3 lb)

Largura

316 mm
(12,4 in)

Altura

625 mm
(24,6 in)

Descrição

Manter-se limpo num ambiente industrial é mais fácil de dizer do que fazer, especialmente em ambientes de fabrico exigentes como o automóvel. Em comparação com os microscópios ópticos tradicionais, o nosso Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM não só permite realizar uma análise de composição mais detalhada à escala microscópica, como também permite detetar e analisar de forma fiável partículas translúcidas, como o vidro, que muitas vezes não são detectadas por outros sistemas. Mas o que realmente distingue este sistema compacto é o software integrado Thermo Scientific Perception Automation, que analisa e identifica automaticamente partículas duras, como SiO2 ou corindo, que podem aumentar a taxa de desgaste de produtos como caixas de engrenagens. Em seguida, o software Perception faz a correspondência entre a quantidade e o tipo de partículas encontradas e as especificações de limpeza relevantes. Por fim, o Phenom ParticleX TC Desktop SEM fornece relatórios industriais concisos que transformam os dados brutos em respostas claras e imparciais para si e para a sua equipa, permitindo assim cumprir as especificações de qualidade, incluindo as normas alemãs VDA. Este sistema também vem com a nossa espetroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) integrada para uma análise avançada da composição. Também pode adicionar um detetor de electrões secundários (SED) para recolher electrões de baixa energia da camada superficial superior da amostra, o que é ideal para obter informações detalhadas sobre a superfície da amostra. Cumpra os padrões de qualidade industrial com confiança Este sistema ajuda-o a responder à pergunta permanente: O meu produto está suficientemente limpo? Em comparação com a microscopia ótica, eleva a fasquia tanto na qualidade da imagem como no âmbito da análise de partículas, dando-lhe confiança nos seus resultados.

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VÍDEO

Catálogos

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.