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Resolução espacial: 1 µm
... Os sistemas de microscópio MX63 e MX63L são otimizados para inspeções de alta qualidade de wafers de até 300 mm, visores planos, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Seu design modular permite que você escolha os componentes ...
Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm
... elevada eficiência: -- Detetor de electrões secundários para alto vácuo -- Detetor de electrões retrodifundidos de semicondutor de 5 segmentos para alto e baixo vácuo, seleção de diferentes modos de sinal, como contraste de material, ...
... amostra. Graças ao corretor de Cs, a superfície pode ser visualizada com resolução atómica. A comutação rotineira e rápida entre TEM e STEM facilita o trabalho diário com um corretor Cs totalmente automatizado, mesmo para principiantes ...
Ampliação : 10 unit - 5.480.000 unit
Resolução espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energia (EDS) da JEOL totalmente integrado, como plataforma comum. O JSM-IT800 permite a substituição da lente objetiva do SEM como um módulo, oferecendo diferentes versões para satisfazer as várias necessidades dos utilizadores. Com ...
Peso: 9,5 kg
Comprimento: 613 mm
Largura: 251 mm
... industriais. Microscópios Modulares Motorizados e Manuais Upright A excelente óptica Nikon CFI60-2 fornece excelentes imagens tanto para as oculares como para as câmaras de imagem digital da Nikon com software de análise. O desenho universal ...
Nikon Metrology
... O novo " Microscópio de Visão Mecânica" (MVM) é um microscópio puramente digital com todas as características que fazem um microscópio. Tem uma objetiva de microscópio ...
... DF, DIC e POL para as análises múltiplas. Microscópio invertido de nível de entrada para aplicações gerais para testes de dureza. Microscópio invertido industrial e da ciência dos materiais especialmente concebido para ...
Ampliação : 66 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 1,3 nm
Comprimento: 1.716 mm
... Microscópio eletrónico de varrimento de alta velocidade para a obtenção de imagens à escala transversal de amostras de grande volume O CIQTEK HEM6000 dispõe de tecnologias como o canhão de electrões de corrente de feixe largo de alto ...
... controladas através de uma interface gráfica de fácil utilização. Construída de acordo com os padrões da indústria de semicondutores em torno de uma plataforma central que utiliza a mais recente tecnologia de produção e pesquisa, a SAM ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... O microscópio de zoom da série ZTX-S adopta um sistema de imagem ótica, com alta resolução, definição fina e forte sentido de tridimensionalidade, fácil operação. O microscópio é amplamente utilizado em semicondutores ...
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