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Resolução espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterização por microscopia electrónica de varrimento de nanomateriais com resolução sub-nanométrica e alto contraste de material. Microscópio Verios 5 XHR Scanning Electron O Verios 5 XHR SEM oferece ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 6 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Largura: 340 mm
... preciso versatilidade. O Thermo Scientific Quattro ESEM pode ajudá-lo a analisar a mais ampla gama de amostras de qualquer SEM da Thermo Scientific e inclui três modos de vácuo que suportam amostras compatíveis com desgaseificação e ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Largura: 340 mm
... experiência. O tempo no microscópio é precioso, e o tempo excessivo gasto em manutenção, alinhamentos, formação, ou optimização de imagem precisa de ser evitado. Microscópio Electrónico Apreo 2 Scanning O novo Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 20 unit - 8.000.000 unit
Resolução espacial: 0,08, 0,1 nm
... O HF5000 é um S/TEM com correção de Cs, personalizável para experiências in-situ. A caraterística especial é proporcionada pelo detetor Everhart Thornley SE, que capta imagens da superfície da amostra a 60-200kV, tal como num SEM. Isto é particularmente ...
Ampliação : 5 unit - 100 unit
Resolução espacial: 2 µm
Comprimento: 18 cm
... Introdução do produto
O WY-C é um
microscópio metalográfico invertido equipado com objetivas metalográficas profissionais de longa distância de trabalho e oculares planas, oferecendo imagens de alta resolução, alto contraste ...
Ampliação : 10 unit
Resolução espacial: 1 nm
Peso: 50 kg
... de medição 2. Operação tudo-em-um do software de análise de medição 1) A medição e a análise são operadas na mesma interface sem comutação, e os dados de medição são contados automaticamente, realizando a função de medição rápida em lote 2) ...
Ampliação : 10 unit - 220 unit
Peso: 110 g
Comprimento: 11,9 cm
... O Dino-Lite AM73915MZT faz parte da gama High Speed com ligação USB 3.0. Oferece uma excelente qualidade de imagem sem compressão e reprodução de cores numa caixa metálica robusta, compacta e apelativa. O USB 3.0 acrescenta um novo modo ...
Ampliação : 10 unit - 140 unit
Peso: 110 g
Comprimento: 11,9 cm
... longa distância de trabalho que faz parte da gama High Speed com ligação USB 3.0. Oferece uma excelente qualidade de imagem sem compressão e reprodução de cores numa caixa metálica robusta, compacta e apelativa. O USB 3.0 adiciona um ...
Ampliação : 40 unit - 800 unit
... estruturas catalisadoras, nanotubos, nanopartículas e outras estruturas em nanoescala) • Excelente plataforma adequada para metrologia MEV/STEM em escala sub-nanométrica • Configuração rápida do feixe de elétrons – condições ideais ...
Ampliação : 2 unit - 200 unit
... MZM 1 - Macro - Microscópio Zoom Macro - Microscópio Zoom para as suas tarefas de medição Para uma mudança contínua nas ampliações mais baixas, o nosso microscópio MZM 1 com uma relação de Zoom de 5:1 ...
Resolução espacial: 0,15, 0,02 nm
Peso: 2.720 kg
Comprimento: 1.450 mm
... Park NX-Tip Scan Head - Sistema de Microscopia Automática de Força Atómica (AFM) para medição de ecrãs de painéis planos ultra grandes e pesados à escala nanométrica Para responder à procura crescente de metrologia baseada ...
Ampliação : 19 unit - 120 unit
... A unidade LD 260 da Metrologia está equipada com um ecrã capaz de suportar imagens de 1,3 megapixels. Esta unidade de 8,4" oferece aos operadores a capacidade de ampliar imagens dentro da faixa de 18,67 a 120x. Ele pode reduzir a duplicação ...
Resolução espacial: 0,5 µm
... amplamente utilizado na indústria mecânica, de contadores, electrónica e ligeira; universidade, Instituto e departamento de metrologia. O projector de perfil de medição pode detectar a dimensão do contorno e a forma da superfície de uma ...
Ampliação : 40 unit - 100 unit
... OptiMIC Microscópio Microscópio com goniômetro para máquinas EWAG WS11. N°: MA 118GC-031 Especificações: - Imagem real. - Ângulo de observação de 30°. - Ampliação padrão de 40X a 100X. - Goniómetro 360° e 5' vernier. - ...
... para si O microscópio de perfilamento ótico 3D da série VK-X4000 combina os métodos confocal a laser, de interferometria de luz branca e de variação de focagem num único sistema de metrologia, permitindo medições altamente ...
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