Microscópio 3D VK-X4000

ópticopara análisesde metrologia

3 princípios de medição num só sistema Medir automaticamente várias áreas em várias peças O AI-Analyzer determina facilmente as principais diferenças de superfície para si O microscópio de perfilamento ótico 3D da série VK-X4000 combina os métodos confocal a laser, de interferometria de luz branca e de variação de focagem num único sistema de metrologia, permitindo medições altamente precisas e sem contacto em praticamente qualquer material e geometria de superfície. A sua recém-desenvolvida função de medição multiponto simplifica ainda mais o processo de análise, automatizando as medições em vários locais e amostras - eliminando configurações ou programações complexas, ao mesmo tempo que proporciona uma maior facilidade de utilização, rendimento e repetibilidade. Três princípios de medição num só sistema: Precisão 3D inigualável para qualquer superfície, qualquer material, qualquer geometria Confocal a laser Mede qualquer material, qualquer forma. Interferometria de luz branca Digitalização multiponto para medições 3D fáceis e automatizadas Captura com precisão dados de superfície 3D com resolução sub-nanométrica. Variação de focagem Medição de detalhes finos da superfície numa grande área. Configure facilmente a posição, as coordenadas e as definições de ampliação clicando simplesmente no ponto a ser medido. As caraterísticas alvo numa peça podem ser facilmente selecionadas. Todas as condições de medição são aplicadas automaticamente. Análise automática da rugosidade Os valores de Ra entre estas duas superfícies são os mesmos, mas as amostras parecem claramente diferentes. Com o AI-Analyzer, dezenas de parâmetros de superfície são comparados para determinar instantaneamente quais os que apresentam as diferenças mais acentuadas. Ra e Rz são dois dos parâmetros de rugosidade mais comuns, mas existem também muitos outros parâmetros.