Microscópios de elétrons retroespalhados

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microscópio SEM
microscópio SEM
Phenom XL G3

Ampliação : 160 unit - 200.000 unit
Resolução espacial: 0 µm - 10 µm

... câmara grande comprovado para a obtenção rápida de imagens e análises de materiais O Thermo Scientific Phenom XL G3 Desktop SEM prepara o terreno para um controlo de qualidade e uma análise de falhas mais rápidos e eficientes. O seu ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio de raios X
microscópio de raios X
Phenom Pro G6

Ampliação : 160 unit - 350.000 unit
Resolução espacial: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Peso: 50 kg

... G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. caraterísticas SEM de nível básico com fonte CeB6 de alto brilho, adequado para tarefas educacionais e básicas de I&D. Fácil de utilizar ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio SEM
microscópio SEM
Phenom ProX G6

Ampliação : 160 unit - 350.000 unit
Resolução espacial: 8, 6 nm

... aplicações. Phenom ProX G6 Desktop SEM: O modelo mais avançado, combinando todas as caraterísticas do Phenom Pro G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. Caraterísticas Para recursos analíticos ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio de raios X
microscópio de raios X
Phenom Pure G6

Ampliação : 160 unit - 175.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 15 nm
Peso: 50 kg

... modelo mais avançado, combinando todas as caraterísticas do Phenom Pro G6 Desktop SEM com EDS integrado para uma análise elementar de raios X abrangente. Caraterísticas SEM de secretária com uma fonte de electrões duradoura ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio para bateria
microscópio para bateria
Phenom ParticleX

Ampliação : 160 unit - 200.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM oferece velocidade e precisão excepcionais. Proporciona um rendimento extremamente rápido que é até 10 vezes mais rápido do que os microscópios electrónicos de varrimento ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio de raios X
microscópio de raios X
Phenom ParticleX TC

Ampliação : 160 unit - 200.000 unit
Resolução espacial: 0 nm - 10 nm
Peso: 75 kg

... especialmente em ambientes de fabrico exigentes como o automóvel. Em comparação com os microscópios ópticos tradicionais, o nosso Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM não só permite realizar uma análise de ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio eletrônico
microscópio eletrônico
Phenom Pharos G2

Ampliação : 2.000.000 unit
Resolução espacial: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Peso: 75 kg

... de proporcionar tudo isto sem necessidade de formação extensiva, para que mais pessoal do laboratório possa fazer mais. O Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM pode oferecer esses benefícios em parte devido à sua fonte de elétrons. ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio de raios X
microscópio de raios X
Axia ChemiSEM

Resolução espacial: 7, 3, 8, 20 nm
Peso: 10 kg

... O sistema Thermo Scientific Axia ChemiSEM foi concebido para eliminar a complexidade da microscopia e ajudá-lo a elevar a sua análise elementar quantitativa. Com uma fonte de tungsténio e capacidades de espetroscopia de raios X dispersiva ...

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THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscópio eletrônico de transmissão e varredura
microscópio eletrônico de transmissão e varredura
SU9000 II

Ampliação : 3.000.000 unit
Resolução espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... O SU9000 II é uma combinação de SEM de imagem de superfície e microscópio de transmissão de varrimento com resolução de estrutura intrínseca (STEM) optimizado para uma resolução extrema. Isto é possível graças à ótica ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU8700

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,6 nm

... produto: - Emissor de campo Hitachi Schottky durável e estável com corrente de sonda até 200nA - Brilhante desempenho de imagem - sem necessidade de um campo de desaceleração na amostra - de 100V (opção de 10V) até 30kV de tensão de aceleração. ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SU8600

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,7, 0,6 nm

... canais em direto, permite uma avaliação abrangente da amostra - Harmoniza-se bem com detectores EDX sem janela - Funções fiáveis e automatizadas significam um SEM fácil de utilizar e de elevado desempenho. Estas funções ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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SU7000

Ampliação : 20 unit - 2.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 0,8 nm

... , secções em série de micrótomo, etc.). Equipado, tal como o SU8700, com a ótica universal de electrões de alta resolução e sem campo da Hitachi (constituída por um emissor Schottky e um amplificador de feixe), o SU7000 possui também ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
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SU3800/3900 Family

Ampliação : 5 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 15, 4, 3 nm

... sinal de luminescência, transmissão (STEM, em conjunto com um suporte de amostras especial) - Ótica de electrões moderna e sem campo, opcionalmente com emissor de campo Schottky ou com cátodos de tungsténio robustos, económicos e, graças ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
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FlexSEM II

Ampliação : 6 unit - 800.000 unit
Resolução espacial: 4, 15 nm

... O FlexSEM II é um SEM de mesa / compacto para tarefas de imagiologia que vão para além do desempenho dos SEMs de mesa convencionais. É o sistema ideal para quem não quer investir num SEM clássico, mas também não quer ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio SEM
microscópio SEM
TM4000PlusIII

Ampliação : 10 unit - 250.000 unit

... Concebido como uma extensão lógica da microscopia estéreo ótica, o TM4000 III é um dispositivo de nível de entrada para a microscopia eletrónica de varrimento. Permite-lhe obter imagens de amostras no mais curto espaço ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscópio SEM
microscópio SEM
CEM3000A

Ampliação : 40 unit - 300.000 unit
Resolução espacial: 4 nm - 8 nm
Peso: 120 kg

... Visão geral

  • Microscópio eletrónico de varrimento de bancada CEM3000A concebido para observação da morfologia à escala micro e análise de superfícies de materiais. Suporta imagem de alto contraste e grande profundidade
...

microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SEM5000Pro

Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg

... R: 360° -SEM Detectores e Extensões Padrão: Detetor de elétrons Inlens / Detetor Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detetor de electrões retrodifundidos retrátil (BSED) Microscópio Eletrónico de Transmissão ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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SEM4000Pro

Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9 nm - 2,5 nm

... canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil •Alta resolução, melhor que a resolução de 1 nm a 30 kV •Design de lente magnética de três estágios, alcance ajustável de feixe amplo •*Detetores ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
microscópio eletrônico de varredura (MEV)
SEM2100

Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 4,5, 3,9 nm

... Especificações do Microscópio CIQTEK SEM2100 SEM Ótica de electrões Resolução: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensão de aceleração: 0,5 kV ~ 30 kV Ampliação (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Câmara ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
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SEM5000X

Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg

... CIQTEK SEM5000X é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (FE-SEM) com resolução inovadora de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Beneficiando-se do processo de engenharia de coluna atualizado, ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio eletrônico de varredura com feixe de íon focalizado
microscópio eletrônico de varredura com feixe de íon focalizado
DB550

Resolução espacial: 3, 0,9, 1,6 nm

... CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com coluna de feixe de íons focados para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia “SuperTunnel”, baixa aberração e design de lente objetiva ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio com filamentos de tungstênio
microscópio com filamentos de tungstênio
SEM 3300

Ampliação : 1 unit - 300.000 unit
Resolução espacial: 2,5 nm - 5 nm
Comprimento: 926 mm

... electromagnéticas compostas. Ao aplicar estas tecnologias ao microscópio de filamento de tungsténio, o limite de resolução de longa data deste tipo de SEM é ultrapassado, permitindo que o SEM de filamento ...

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CIQTEK Co., Ltd.
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
HEM6000

Ampliação : 66 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 1,3 nm
Comprimento: 1.716 mm

... alta resolução 64 * 64 um2 5. Repetibilidade do estágio: X ± 0,6 um; Y ± 0,3 um 6. Sistema de filtragem de elétrons de sinal: comutação sem sinal SE / BSE, mistura com proporção ajustável 7. Sistema de deflexão de ...

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microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo
SEM4000X

Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... 360° Detectores e extensões SEM - Padrão: Detetor de electrões na lente: UD-BSE/UD-SE Detetor Everhart-Thornley: LD Opcional: Detetor de electrões retrodifundidos (BSED) Detetor de Microscopia ...

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