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Resolução espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterização por microscopia electrónica de varrimento de nanomateriais com resolução sub-nanométrica e alto contraste de material. Microscópio Verios 5 XHR Scanning Electron O Verios 5 XHR SEM oferece ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 6 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Largura: 340 mm
... preciso versatilidade. O Thermo Scientific Quattro ESEM pode ajudá-lo a analisar a mais ampla gama de amostras de qualquer SEM da Thermo Scientific e inclui três modos de vácuo que suportam amostras compatíveis com desgaseificação e ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Peso: 5 kg
Largura: 340 mm
... experiência. O tempo no microscópio é precioso, e o tempo excessivo gasto em manutenção, alinhamentos, formação, ou optimização de imagem precisa de ser evitado. Microscópio Electrónico Apreo 2 Scanning O novo Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,7 nm - 1,8 nm
Peso: 5 kg
Largura: 340 mm
... completa de materiais As tecnologias EDS e EBSD dedicadas tornam as análises avançadas mais acessíveis e facilitam uma melhor compreensão dos seus materiais. Gama abrangente de detectores Obtenha resultados precisos sem ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 1.030, 515 nm
... femtosegundo e a imagiologia SEM ( microscopia eletrónica de varrimento). Esta combinação "TriBeam" permite a obtenção de imagens e análises de alta resolução com capacidade de ablação in situ, oferecendo taxas de remoção ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolução espacial: 0,7, 1,2, 1,4 nm
Peso: 5 kg
... FIB-SEM versátil para um desempenho de elevado rendimento com automatização avançada O Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM é um microscópio eletrónico de varrimento por feixe de iões (FIB-SEM) avançado, de resolução ultra-alta e focado ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Ampliação : 20 unit - 1.000.000 unit
Resolução espacial: 4, 1,6, 1,2 nm
... observações SEM de alta resolução e análises rápidas utilizando espetroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS) e difração por retrodifusão de electrões ( EBSD). Além disso, uma função de análise tridimensional ...
Jeol
... correção trapezoidal (útil para medições EBSD) e a reconstrução de superfície Live 3D para observação da topografia da superfície. A operação de um FE SEM nunca foi tão fácil com a série JSM-IT810. A observação SEM ...
Jeol
Ampliação : 10 unit - 5.480.000 unit
Resolução espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energia (EDS) da JEOL totalmente integrado, como plataforma comum. O JSM-IT800 permite a substituição da lente objetiva do SEM como um módulo, oferecendo diferentes versões para satisfazer as várias necessidades dos utilizadores. Com ...
Jeol
Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 4, 7, 3 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 é um microscópio eletrônico de varredura com filamento de tungstênio de alto desempenho. Possui excelentes recursos de qualidade de imagem nos modos de alto e baixo vácuo. Também possui uma grande profundidade de campo ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,8 nm - 1,3 nm
Peso: 950 kg
... Especificações do Microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Ótica de electrões Resolução: 0,8 nm a 15 kV, SE/1,2 nm a 1,0 kV, SE Tensão de aceleração: 0.02kV ~ 30 kV Ampliação (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Tipo de canhão de electrões: canhão ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9 nm - 2,5 nm
... CIQTEK SEM4000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico analítico equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil. O design de lente magnética de três estágios, ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 300.000 unit
Resolução espacial: 4,5, 3,9 nm
... Especificações do Microscópio CIQTEK SEM2100 SEM Ótica de electrões Resolução: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensão de aceleração: 0,5 kV ~ 30 kV Ampliação (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Câmara ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1 unit - 2.500.000 unit
Resolução espacial: 0,6 nm - 1 nm
Peso: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (FE-SEM) com resolução inovadora de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. Beneficiando-se do processo de engenharia de coluna atualizado, ...
CIQTEK Co., Ltd.
Resolução espacial: 3, 0,9, 1,6 nm
... CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com coluna de feixe de íons focados para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia “SuperTunnel”, baixa aberração e design de lente objetiva ...
CIQTEK Co., Ltd.
Ampliação : 1.000.000 unit
Resolução espacial: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... 360° Detectores e extensões SEM - Padrão: Detetor de electrões na lente: UD-BSE/UD-SE Detetor Everhart-Thornley: LD Opcional: Detetor de electrões retrodifundidos (BSED) Detetor de Microscopia ...
CIQTEK Co., Ltd.
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