Microscópio FIB/SEM Scios 3

para análisespara controle da qualidadepara pesquisa

FIB-SEM versátil para um desempenho de elevado rendimento com automatização avançada O Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM é um microscópio eletrónico de varrimento por feixe de iões (FIB-SEM) avançado, de resolução ultra-alta e focado na análise. Destaca-se por proporcionar uma excecional preparação de amostras e caraterização 3D para uma vasta gama de amostras, incluindo materiais magnéticos e não condutores. Concebido com caraterísticas inovadoras para aumentar o rendimento, a fiabilidade e a facilidade de utilização, o FIB-SEM Scios 3 é a solução ideal para cientistas e engenheiros que realizam investigação e análise avançadas em diversos ambientes. Combinado com o conjunto completo de aplicações de software automatizadas, o FIB-SEM Scios 3 é adaptado para facilitar os casos de utilização mais comuns. Esta solução inovadora e de fácil utilização aumenta significativamente a produtividade, tornando-a valiosa para os utilizadores da indústria e do meio académico. caraterísticas Análise automatizada de secções transversais O FIB-SEM Scios 3 oferece uma aplicação automatizada para a análise de secções transversais, permitindo uma caraterização de subsuperfície de alta qualidade com uma orientação precisa. Simplifica os fluxos de trabalho, reduz a intervenção do utilizador e assegura resultados consistentes e de alta qualidade em ambientes de elevado rendimento. Caracterização 3D analítica de alto rendimento O software Thermo Scientific Auto Slice & View 5 para o Scios 3 FIB-SEM oferece seccionamento em série automatizado para análise 3D de alto rendimento. A integração perfeita permite a recolha de dados multimodais, incluindo imagens SEM, informações de composição, microestruturais e cristalográficas. Preparação de amostras (S)TEM automatizada, de alta qualidade e específica para o local O Scios 3 FIB-SEM permite a preparação rápida e fácil de amostras (S)TEM de alta qualidade e específicas do local.