Microscópio eletrônico de varredura com feixe de íon focalizado Helios 5 DualBeam

para a pesquisa sobre materiais3Dde alta resolução

Preparação de amostras para imagens TEM e STEM ou tomografia por sonda atómica. Fácil de utilizar com automatização avançada. Capaz de caraterização 3D de subsuperfície de alta qualidade. Preparação de amostras FIB O novo Thermo Scientific Helios 5 DualBeam baseia-se nas capacidades de imagem e análise de elevado desempenho da família Helios DualBeam, líder na indústria. Foi cuidadosamente concebido para satisfazer as necessidades dos investigadores e engenheiros de ciências dos materiais para uma vasta gama de casos de utilização de microscopia eletrónica de varrimento com feixe de iões focados (FIB-SEM) - mesmo nas amostras mais difíceis. O Helios 5 DualBeam redefine o padrão em imagens de alta resolução com elevado contraste de materiais; preparação rápida, fácil e precisa de amostras de alta qualidade para imagens (S)TEM e tomografia por sonda atómica (APT), bem como a caraterização de subsuperfície e 3D de alta qualidade. Com base nas capacidades comprovadas da família Helios DualBeam, foram concebidos avanços adicionais no novo Helios 5 DualBeam para garantir que o sistema é optimizado para uma variedade de fluxos de trabalho manuais ou automatizados. Essas melhorias incluem: -Maior facilidade de utilização: O Helios 5 DualBeam é o DualBeam mais acessível para utilizadores de todos os níveis de experiência. A formação do operador pode ser reduzida de meses para dias e a conceção do sistema está a ajudar todos os operadores a obter resultados consistentes e repetíveis numa grande variedade de aplicações avançadas. -Aumento da produtividade: Capacidades avançadas de automatização, maior robustez e melhorias de estabilidade no DualBeam Helios 5 e no software AutoTEM 5 da Thermo Scientific podem aumentar significativamente o rendimento da preparação de amostras, permitindo o funcionamento sem supervisão e mesmo durante a noite.