Microscópio SEM Helios 5

para controle da qualidadepara a pesquisa sobre materiais3D

Fresagem por feixe de iões focalizados e ablação por laser de femtosegundo Os sistemas laser Helios 5 PFIB da Thermo Scientific combinam a fresagem por feixe de iões focados no plasma com a ablação por laser de femtosegundo e a imagiologia SEM (microscopia eletrónica de varrimento). Esta combinação "TriBeam" permite a obtenção de imagens e análises de alta resolução com capacidade de ablação in situ, oferecendo taxas de remoção de material sem precedentes para uma rápida caraterização à escala milimétrica com resolução nanométrica. O laser de femtossegundos pode cortar muitos materiais a taxas que são ordens de magnitude mais rápidas do que uma FIB típica. Uma grande secção transversal (centenas de micrómetros) pode ser criada em menos de cinco minutos. Como o laser tem um mecanismo de remoção diferente (ablação versus pulverização iónica da FIB), pode facilmente processar materiais difíceis, como amostras não condutoras ou sensíveis a feixes de iões. A duração extremamente curta dos impulsos laser de femtossegundos quase não introduz artefactos como o impacto térmico, microfissuras, fusão ou os típicos do polimento mecânico tradicional. Na maioria dos casos, as superfícies fresadas a laser são suficientemente limpas para a obtenção direta de imagens SEM e mesmo para técnicas sensíveis à superfície, como o mapeamento por difração de retrodispersão de electrões (EBSD). Oferecemos uma vasta gama de produtos e capacidades avançadas de automatização para aplicações como a preparação de amostras para microscopia eletrónica de transmissão (TEM), preparação de amostras para tomografia por sonda atómica (APT) e análise estrutural 3D. Preparação de amostras para microscopia eletrónica de transmissão e tomografia por sonda atómica Construídos sobre a comprovada plataforma Helios 5 DualBeam, estes instrumentos incorporam um conjunto de tecnologias de ponta para proporcionar um elevado desempenho,