Microscópio FIB/SEM Helios 5

para controle da qualidadepara a pesquisa sobre materiais3D

Fresagem de feixe de iões focalizados e ablação por laser de femtossegundo Os sistemas laser Thermo Scientific Helios 5 PFIB combinam a fresagem de feixes de iões focados no plasma com a ablação por laser de femtossegundo e a imagiologia SEM (microscopia electrónica de varrimento). Esta combinação "TriBeam" permite a obtenção de imagens e análises de alta resolução com capacidade de ablação in situ, oferecendo taxas de remoção de material sem precedentes para caracterização rápida à escala milimétrica com resolução nanométrica. O laser femtossegundo pode cortar muitos materiais a taxas que são ordens de magnitude mais rápidas do que uma FIB típica. Uma grande secção transversal (centenas de micrómetros) pode ser criada em menos de cinco minutos. Como o laser tem um mecanismo de remoção diferente (ablação versus a pulverização iónica do FIB), pode facilmente processar materiais desafiantes, tais como amostras não condutoras ou sensíveis ao feixe de iões. A duração extremamente curta dos impulsos laser do femtossegundo introduz quase nenhum artefacto como o impacto do calor, microcracking, derretimento, ou os típicos do polimento mecânico tradicional. Na maioria dos casos, as superfícies fresadas a laser estão suficientemente limpas para a imagem SEM directa e mesmo para técnicas sensíveis à superfície, tais como o mapeamento da difracção de retrodifracção de electrões (EBSD). Oferecemos uma vasta carteira de produtos e capacidades avançadas de automatização para aplicações tais como microscopia electrónica de transmissão (TEM) preparação de amostras, tomografia por sonda atómica (APT) preparação de amostras, e análise estrutural 3D.