Microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo SEM5000
de laboratórioindustrialpara controle da qualidade

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Características

Tipo
eletrônico de varredura por emissão de campo
Aplicações técnicas
de laboratório, industrial, para controle da qualidade, para análise de materiais
Técnica de observação
de campo claro, in situ
Configuração
de piso
Fonte de elétrons
de emissão de campo Schottky
Tipo de detector
in-lens SE, de elétrons retroespalhados, EBSD
Opções e acessórios
assistido por computador
Outras características
de alta resolução, automático, de observação
Ampliação

MÍN: 1 unit

MÁX: 2.500.000 unit

Resolução espacial

0,8 nm, 1 nm, 1,5 nm

Peso

950 kg
(2.094,4 lb)

Comprimento

1.310 mm
(51,6 in)

Largura

910 mm
(35,8 in)

Altura

1.710 mm
(67,3 in)

Descrição

O CIQTEK SEM5000 é um microscópio eletrónico de varrimento de emissão de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolução e rico em características. Design avançado de coluna, tecnologia de tunelamento de alta tensão (SuperTunnel), design de lente objetiva magnética de baixa aberração e sem vazamento, para obter imagens de alta resolução de baixa tensão, enquanto amostras magnéticas podem ser aplicadas. Navegação ótica, funções automáticas avançadas, interação homem-máquina bem concebida e funcionamento optimizado. Com ou sem experiência, é possível iniciar rapidamente as tarefas de captação de imagens de alta resolução. Imagem de alta resolução com baixa tensão de aceleração. O espelho composto eletromagnético reduz as aberrações, melhora significativamente a resolução a baixas tensões e permite a observação de amostras magnéticas. Tecnologia de tunelamento de alta pressão (SuperTunnel), em que os electrões no túnel podem manter uma energia elevada, reduzindo os efeitos de carga espacial e assegurando a resolução a baixa tensão. O caminho ótico eletrónico sem crossover reduz eficazmente a aberração do sistema e melhora a resolução. Lente objetiva de temperatura constante arrefecida a água, para garantir a estabilidade, fiabilidade e repetibilidade do trabalho da lente objetiva. Diafragma ajustável de seis orifícios de deflexão magnética, orifício do diafragma de comutação automática, sem ajuste mecânico, para obter uma observação de alta resolução ou uma comutação rápida do modo de análise de feixes grandes.

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VÍDEO

Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

International Conference on Magnetism - ICM2024

30 jun - 05 jul 2024 Bologna (Itália)

  • Mais informações
    63rd Rocky Mountain Conference on Magnetic Resonance-RMC

    4-08 ago 2024 Copper Mountain (EUA - Colorado)

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    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.