Microscópio com filamentos de tungstênio SEM 3300

eletrônico de varredura (MEV)para análisespara análise de materiais

Especificações do Microscópio SEM CIQTEK SEM3300 *Ótica de electrões Resolução: 2,5 nm a 15 kV, SE 4 nm a 3 kV, SE 5 nm a 1 kV, SE Tensão de aceleração: 0,1 kV ~ 30 kV Ampliação (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x *Câmara de amostras Câmara: Navegação ótica Monitorização da câmara Tipo de estágio: motorizado compatível com vácuo de 5 eixos Alcance XY: 125 mm Faixa Z: 50 mm Gama T: - 10° ~ 90° Gama R: 360° *Detectores SEM Padrão: Detetor de electrões na lente (Inlens) Detetor Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detetor de electrões retrodifundidos retrátil (BSED) Espectrómetro de dispersão de energia (EDS / EDX) Padrão de Difração de Electrões Retrodifundidos (EBSD) *Opcional Bloqueio de carga para troca de amostras Painel de controlo Trackball & Knob *Interface do utilizador Sistema operativo: Windows Navegação: Navegação ótica, navegação rápida por gestos, Trackball (opcional) Funções automáticas: Brilho e contraste automáticos, focagem automática, estigmatizador automático O Microscópio Eletrónico de Varrimento (SEM) CIQTEK SEM3300 incorpora tecnologias como a ótica de electrões "Super-Tunnel", detectores de electrões inlens e lentes objectivas electrostáticas e electromagnéticas compostas. Ao aplicar estas tecnologias ao microscópio de filamento de tungsténio, o limite de resolução de longa data deste tipo de SEM é ultrapassado, permitindo que o SEM de filamento de tungsténio realize tarefas de análise de baixa tensão que anteriormente só eram possíveis com SEMs de emissão de campo. *Ultrapassar o limite de resolução dos SEMs de filamento de tungsténio *Detetor de electrões na lente *Lente objetiva electromagnética e eletrostática combinada *Utilização mais segura *Excelente capacidade de expansão