Microscópio eletrônico de varredura (MEV) SEM2100

de laboratóriopara análise de materiaispara semicondutor

Especificações do Microscópio CIQTEK SEM2100 SEM Ótica de electrões Resolução: 3.9 nm @ 20 kV, SE 4.5 nm a 20 kV, BSE Tensão de aceleração: 0,5 kV ~ 30 kV Ampliação (Polaroid): 1 x ~ 300.000 x Câmara de amostras Câmara: Navegação ótica Monitorização da câmara Tipo de estágio: 3 eixos, eixo XYZ compatível com vácuo motorizado Alcance XY: 125 mm Alcance Z: 50 mm Detectores SEM Padrão: Detetor Everhart-Thornley (ETD) Opcional: Detetor de electrões retrodifundidos retrátil (BSED) Espectrómetro de dispersão de energia (EDS / EDX) Padrão de Difração de Electrões Retrodifundidos (EBSD) Opcional Bloqueio de carga para troca de amostras Painel de controlo Trackball & Knob Interface do utilizador - Sistema operativo: Windows Navegação: Navegação ótica, navegação rápida por gestos, Trackball (opcional) Funções automáticas: Brilho e contraste automáticos, focagem automática, estigmatizador automático O Microscópio CIQTEK SEM2100 SEM apresenta um processo de operação simplificado e adere aos padrões da indústria e aos hábitos do utilizador no seu design de "Interface de Utilizador". Apesar da interface de software minimalista, ele fornece funções automatizadas abrangentes, ferramentas de medição e anotação, recursos de gerenciamento de pós-processamento de imagem, navegação de imagem ótica e muito mais. O design do SEM2100 concretiza na perfeição a ideia de "Simplicidade sem sacrificar a funcionalidade". #Design intuitivo, limpo e fácil de utilizar #Funções de automatização abrangentes #Funções integradas de pós-processamento de imagem #Funções integradas de pós-processamento de imagem #Navegação de imagem ótica padrão #Excelente capacidade de expansão #Segurança de utilização