Microscópio SEM CEM3000A
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Microscópio SEM - CEM3000A - Chotest Technology Inc. - para biomedicina / para pesquisa / para a pesquisa sobre materiais
Microscópio SEM - CEM3000A - Chotest Technology Inc. - para biomedicina / para pesquisa / para a pesquisa sobre materiais
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Características

Tipo
SEM
Aplicações técnicas
para pesquisa, para biomedicina, para a pesquisa sobre materiais, para materiais, para bateria
Configuração
de bancada
Fonte de elétrons
com filamentos de tungstênio
Tipo de detector
de elétrons retroespalhados, de elétrons secundários, com detector de energia dispersiva de raios X (EDS)
Outras características
de alta resolução, de observação, motorizado, de alinhamento, 3 eixos, de grande ampliação, de elevado contraste
Ampliação

MÁX: 300.000 unit

MÍN: 40 unit

Resolução espacial

MÁX: 8 nm

MÍN: 4 nm

Peso

120 kg
(264,6 lb)

Comprimento

67 cm
(26,4 in)

Largura

40 cm
(15,7 in)

Altura

73 cm
(28,7 in)

Descrição

Visão geral
  • Microscópio eletrónico de varrimento de bancada CEM3000A concebido para observação da morfologia à escala micro e análise de superfícies de materiais. Suporta imagem de alto contraste e grande profundidade de campo com eletrões secundários (SE) e retroespalhados (BSE) e pode ser acompanhado por um espectrómetro de dispersão de energia (EDS) opcional para análise elementar.


Aplicações
  • Adequado para ciência dos materiais, ciências da vida, nanotecnologia e investigação energética; expansível através de sondas e acessórios opcionais. Tecnologias integradas anti‑vibração e anti‑magnéticas reduzem ruído e melhoram a estabilidade da imagem.


Especificações técnicas
  • Modelo do produto: CEM3000A
  • Nome do produto: Scanning Electron Microscope
  • Ampliação (imagem eletrónica): 40×–300.000× (costura de área grande opcional)
  • Tamanho máximo da amostra (L × C × A): 70 mm × 70 mm × 45 mm
  • Filamento / canhão eletrónico: Filamento de tungsténio
  • Resolução: ≤ 4 nm (SE), ≤ 8 nm (BSE) @20 kV
  • Tensão de aceleração: 1 kV–20 kV
  • Detetores: Eletrão secundário (SE) — padrão; Eletrão retroespalhado (BSE) — padrão (sonda de alta resolução de 4 quadrantes)
  • Espectrómetro de dispersão de energia (EDS): Bruker ou Oxford (opcional)
  • Sistema de vácuo — Alto vácuo: melhor que 9×10⁻³ Pa
  • Sistema de vácuo — Baixo vácuo (opcional): 5–100 Pa
  • Tempos de bombagem / disponibilidade: Tempo de bombagem em modo baixo vácuo ≤ 180 s; tempo alternativo ≤ 120 s
  • Tempo de troca de amostra: Descarga de vácuo ≤ 30 s; re‑bombagem ≤ 100 s
  • Eixos da mesa: Motorizados: X, Y, T; Manuais: R, Z
  • Curso da mesa: X: 50 mm; Y: 50 mm; Z: 45 mm
  • Rotação e inclinação: R: 0°–360° (rotação manual, rotação do feixe); T: -22,5°–+22,5°
  • Câmaras na câmara: Câmara de navegação (Top‑View) — cor alta resolução padrão; Câmara Side‑View — IR alta resolução padrão
  • Sistema operativo: Windows 10 / 11 (64 bit)
  • Tamanhos de imagem suportados: 640×480, 1280×960, 2560×1920, 5120×3840, 10240×7680
  • Peso: 120 kg
  • Dimensões (L × C × A): 400 × 670 × 730 mm
  • Alimentação: 200–240 VAC, 50/60 Hz, 800 W
  • Ambiente de operação: Temperatura de trabalho 15°C–30°C (variação ≤ 1°C / 15 min); humidade relativa ≤ 65%, sem condensação


Automação e software
  • Funções de automação integradas: alinhamento automático, foco automático, estigmatização automática e melhoria de imagem com um clique para otimizar tarefas rotineiras.


Opções e acessórios
  • EDS opcional (Bruker ou Oxford), modo de baixo vácuo, costura de grandes áreas, sondas adicionais e acessórios personalizados disponíveis para adaptar o sistema às necessidades do laboratório.

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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.