Seja um expositor
*mydirectindustry  
português
  1. Metrologia - Laboratório
  2. Metrologia e Ensaios
  3. Sistema de medição de dimensões críticas
  4. TZTEK Technology Co.,ltd

Sistema de medição de dimensões críticas IRIS
infravermelhomediante câmerapara semicondutor

sistema de medição de dimensões críticas
sistema de medição de dimensões críticas
Guardar nos favoritos
Comparar
 
Mais informações no site da TZTEK Technology Co.,ltd

Características

Grandeza física
de dimensões críticas
Tecnologia
mediante câmera, infravermelho
Produto medido
para semicondutor

Descrição

O sistema de infravermelhos da TZTEK ocupa uma posição de liderança a nível mundial. O sistema combina uma câmara de infravermelhos de alto desempenho com uma ótica de infravermelhos optimizada para gerar imagens com excelente resolução e contraste. principais características -Sistema ótico de infravermelhos optimizado, comprimento de onda de luz infravermelha até 1500 nm -Disponível para soluções de manuseamento personalizadas -Combinação de iluminação visível e infravermelha nos modos refletido e transmitido -SECS/GEM

---

Tradução automática  (ver texto original em inglês)

Mais informações no site da TZTEK Technology Co.,ltd

Outros produtos TZTEK Technology Co.,ltd

Semiconductor

Ver todos os produtos TZTEK Technology Co.,ltd
* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.