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Sistema de medição de dimensões críticas IRIS
infravermelhomediante câmerapara semicondutor

Sistema de medição de dimensões críticas - IRIS - TZTEK Technology Co.,ltd - infravermelho / mediante câmera / para semicondutor
Sistema de medição de dimensões críticas - IRIS - TZTEK Technology Co.,ltd - infravermelho / mediante câmera / para semicondutor
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Características

Grandeza física
de dimensões críticas
Tecnologia
mediante câmera, infravermelho
Produto medido
para semicondutor

Descrição

O sistema de infravermelhos da TZTEK ocupa uma posição de liderança a nível mundial. O sistema combina uma câmara de infravermelhos de alto desempenho com uma ótica de infravermelhos optimizada para gerar imagens com excelente resolução e contraste. principais características -Sistema ótico de infravermelhos optimizado, comprimento de onda de luz infravermelha até 1500 nm -Disponível para soluções de manuseamento personalizadas -Combinação de iluminação visível e infravermelha nos modos refletido e transmitido -SECS/GEM

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Tradução automática  (ver texto original em inglês)

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Semiconductor

* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.