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Sistema de medição de dimensões críticas MT2010VIS/IRinfravermelhomediante câmerapara semicondutor
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Características
- Grandeza física
- de dimensões críticas
- Tecnologia
- mediante câmera, infravermelho
- Produto medido
- para semicondutor
- Outras características
- automático
Descrição
O sistema de infravermelhos da TZTEK ocupa uma posição de liderança a nível mundial. O sistema combina uma câmara de infravermelhos de alto desempenho com uma ótica de infravermelhos optimizada para gerar imagens com excelente resolução e contraste.
principais características
-Medição automática
-Combinação de luz visível e infravermelha nos modos refletido e transmitido
-SECS/GEM
-Baixo custo de manutenção, estável e fiável
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* Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.