Difratômetro GISAXS Xeuss 3.0

SAXSUSAXSWAXS

A linha de feixe da Próxima Geração para o laboratório Máxima flexibilidade Desempenho final Espaço de sobra para o ambiente de amostra O Xeuss 3.0 é o instrumento de última geração da comprovada família Xeuss e já está instalado nas principais instalações de pesquisa em todo o mundo. Incorpora todas as últimas inovações da Xenocs para maior capacidade, flexibilidade e facilidade de utilização. Caracterizar a nanoestrutura de nanomateriais e nanomateriais usando a técnica SAXS/WAXS e USAXS em modo de transmissão ou incidência de pastoreio. - Distribuição granulométrica variando de poucos nanômetros a mais de 350 nm de diâmetro - Taxas de cristalização e estrutura lamelar de polímeros semicristalinos - Análise de tamanho e forma de surfactantes ou proteínas em soluções - Organização e orientação de nanomateriais atómicos ou em nanoescala, em fases a granel ou em superfícies - Estudos de segregação de fases de ligas - Estudos in situ das transições da nanoestrutura Máxima flexibilidade Fornecer ferramentas estruturais a uma grande comunidade de usuários com total capacidade de operação remota e acesso a uma gama única de escalas de comprimento. O desenvolvimento e design avançado de nanomateriais requerem caracterização em uma grande variedade de escalas de comprimentos. O Xeuss 3.0 oferece essa capacidade de medição em até 5 ordens de magnitude em q (vetor de onda) através de mudança de configurações totalmente motorizada. Qualquer usuário treinado pode assim operar o sistema remotamente em toda a sua faixa de medição para uma determinada amostra ou lote de amostras. A mudança automática das configurações de medição inclui: Q-Xoom alteração da resolução de medição através da tradução motorizada do detector Medição seqüencial SAXS /USAXS com o módulo Bonse-Hart USAXS