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Microscópio SEM ZEISS SIGMApara análisescom câmera digital
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Características
- Tipo
- SEM
- Aplicações técnicas
- para análises
- Outras características
- com câmera digital
Descrição
O SIGMA FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscopes) é uma série de microscópios avançados utilizados na detecção de electrões.
Ele vem com um software de navegação de imagem que é incorporado ao SmartSEM. Ele é projetado fora da coluna GEMINI dando-lhe uma estabilidade de imagem de baixa tensão. A montagem de detectores EDS duplos em sua câmara aumentará sua funcionalidade.
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