Microscópio de raios X ZEISS XRADIA Context microCT

para análisespara componentes eletrônicos3D

A microtomografia computadorizada (microCT) ZEISS Xradia Context® é um sistema fácil de usar para análise de todos os tipos de amostras. Um detetor de alta matriz permite alta resolução de detalhes finos, mesmo com volumes de imagem relativamente grandes. O sistema possui um grande campo de visão, montagem e alinhamento rápidos de amostras, fluxo de trabalho de aquisição simplificado e tempos rápidos de exposição e reconstrução de dados. Obtenha dados 3D de componentes electrónicos inteiros intactos, grandes amostras de materiais ou espécimes biológicos. Efectue análises de falhas não destrutivas para identificar defeitos internos sem cortar a amostra ou a peça de trabalho. Caracterize e quantifique heterogeneidades que definem o desempenho nas suas amostras geológicas, como porosidade, fissuras, inclusões, defeitos ou fases múltiplas. Realize estudos evolutivos 4D, através de tratamento ex situ ou manipulação de amostras in situ. Conecte-se ao ambiente de microscopia correlativa da ZEISS e realize imagens 3D não destrutivas para identificar regiões de interesse para análise subsequente. Aquisição de imagens 3D de contexto completo O Xradia Context oferece excelente qualidade de imagem, estabilidade e facilidade de uso, juntamente com um ambiente de fluxo de trabalho eficiente e digitalização de alto rendimento Resolva detalhes finos em todo o seu contexto 3D, mesmo dentro de um volume de imagem relativamente grande, com um detetor de alta densidade de pixels de seis megapixels Visualize estruturas enterradas de forma não destrutiva em 3D para análise de processos, análise de construção e análise de falhas Maximize a ampliação geométrica com pequenas amostras para identificar e caraterizar estruturas de escala micrométrica com alto contraste e clareza