孤立デフェクト位置特定機 ISOSCAN® EDS309x

ポータブル絶縁破壊ケース 用途 主回路および制御回路 電流プローブ Ø 20/52/115 mm TN/TTシステムの残留電流測定 ユニバーサルシステムコンセプト EDS30...は、未発見のシステム（ITシステム）の絶縁不良を検出するために設計されたポータブル絶縁不良検出システムです。すべての重要なコンポーネントは、持ち運びに便利な頑丈なアルミケースに収納されています。 特長 AC 42～460 Hz 0～790 V/DC 0～960 Vまたは非通電システム用の可搬型絶縁障害検出システム TN/TTシステムの残留電流測定 主回路および制御回路での使用 測定クランプ 20/52 mm (115 mm オプション) 持ち運びに便利な頑丈なアルミケース 試験装置 PGH18...試験電流可変 1～25 mA 非通電システム用試験電圧内蔵 (PGH186) 絶縁故障評価器 EDS195PM バックライト付きLCディスプレイ、3 x 16文字 測定クランプ20/52 mmを同梱 アキュムレータによる供給（電源ユニットに付属） 応答値 絶縁故障位置 主回路用 2...10 mA 応答値 絶縁故障位置 0.2 ～ 1 mA 制御回路用 応答値 残留電流測定 10 mA...10 A 選択可能な動作モード 絶縁故障位置/残留電流測定 用途 絶縁故障箇所検出システム（EDS）がインストールされていないITシステム EDS3090PG AC 20...575 V 42...460 Hz、DC 20...504 V、AGE185付きAC 500...790 V 42...460 Hz、DC 400...960 Vまでの主回路用 EDS3091PG 制御回路用 最大AC 20...265 V 42...460 Hz、DC 20...308 V EDS3096PG IT システムの主回路用 最大 AC 0～575 V 42～460 Hz、DC 20～504 V、全極切り離し時