3軸スキャナ ABIS III

表面検査用

ZEISS ABIS IIIは、高速検査と、へこみ、膨らみ、ヒケ、波打ち、くびれ、ひび割れ、さらに傷や圧力痕などのあらゆる表面欠陥の確実な検出を組み合わせています。このシステムは、可動部品と固定部品の両方を、実生産中やサイクルタイム内に再現性よく、高精度に検査します。さらに、インラインだけでなく、生産現場でのアットラインでの使用にも適しています。特許取得済みのMulti-Color-Lightテクノロジーにより、微細な欠陥も検出することができます。わずか数秒後には、デジタル検査レポートが発行されます。このように、Q-stopなどの機能や、リワークを予定するための欠陥の可視化などのデジタル品質詳細が常に利用できます。これらは、閉ループ回路の基礎となり、スマートプロセス制御を実現するための前提条件となるものです。最高の品質基準を満たすためにドイツで設計・開発されたZEISS ABIS IIIは、現代のプレス工場と未来志向のボディショップの両方にとって理想的なソリューションです。その中で技術的なハイライトのひとつは、新しく開発されたMCLモジュールです。特許取得済みのMulti-Color-Light技術により、最大20Hzの速度で、センサースキャン1回あたりの評価時間が0.5秒未満で、微細な欠陥の検出が可能です。ZEISS ABIS V20ソフトウェアとの組み合わせにより、表面特性を数秒以内に検出し、個々の企業基準の仕様に従って評価することができます。ソフトウェアは、へこみ、膨らみ、波打ち、くびれ、スキッドラインなどの欠陥の種類をリアルタイムで視覚化し、検査結果をデジタルでデータベースに保存します。