CAOソフトウェア Spark™

形態検査用モ－タ－用

Sparkは、当社の最新世代の自動光学検査システムを支えるCIMS検査エンジンを稼働させるプラットフォームです。Spark 3.0は、ハードウェアとソフトウェアの両モジュールを統合した、このプラットフォームの最新世代です。Sparkテクノロジーの主な機能には、以下のものが含まれます。 高度な画像処理アルゴリズムにより、PCB設計と表面状態のあらゆる組み合わせにおいて最適な性能を確保する、カスタマイズされた検出が可能になります。 「Multizone」は、回路の異なる部分を分析・グループ化し、各ゾーン要素ごとに検査性能を個別に最適化するSpark独自の機能です。 「Multistep」は、PCBの各工程ごとに独立した設定が可能であり、検査の柔軟性をさらに高めます。 高度な誤検知フィルタリング機構は、実際のスキャンに先立ってCADデータを分析することで誤検知を排除し、AOIのセットアップ時間を劇的に短縮します； DST（デュアル・スペース・スレッショルド）は、誤検知率を絶対最小限に抑えつつ、微細な短絡に対するAOIの感度を高めるための特殊な画像処理手法です。