粗度測定システム MicroProf® 200

非破壊式高解像度

FRT MicroProf® 200は、ほぼ全ての表面や膜を非接触で非破壊評価できる高性能な測定器です。この表面測定器は、当社が確立したSurfaceSens技術をベースにしており、たった一つのシステムで数多くの測定タスクを実行することができます。高解像度のCWLセンサーにより、表面形状、粗さ、輪郭など、多くのパラメータを簡単かつ確実に測定することができます。また、豊富な追加センサにより、MicroProf 200をお客様の測定タスクに個別に適合させることも可能です。TTVモジュールを使用して両面から検査したり、自動サンプルハンドリング（MHU）モジュールを使用して、マイクロプロフ200はいつでも新しい測定要件に簡単にレトロフィットすることができます。これらの機能により、このツールは最高の自動化要求を満たすことができます。