絶対リニアエンコ—ダ GVS 508

光学式SSIIP64

ガラス製測定サポート付きアブソリュート光学スケール。 分解能最大10nm。 精度は標準バージョンで±5μm、高精度バージョンで±3μm（測定長670mmまでは±2μm）。 高い耐環境性。 中央固定拡張ポイント（FEP）。ご要望に応じて、右側（RT）または左側（LT）に配置し、アプリケーションのタイプに合わせた直線的な拡張が可能。 各スケールに計量証明書を添付 線膨張係数 λ = 8 x 10-6 °C-1. 絶対測定値の直読 変換器のコネクタ 電源の極性反転や出力ポートのショートから保護。 狭いスペースにも設置可能な小型サイズ。 スケールの両側または変換器からの加圧。 カタログ