3Dスキャナー HP-O

3次元測定機用レーザー干渉

HP-Oセンサーソリューションは、座標測定機（CMM）用のスキャニング技術で、周波数変調干渉光学距離測定法をベースにしています。 非接触測定が新たな次元に到達。先進のHP-O光学センサーシリーズは、座標測定機（CMM）での光学式測定の新しい基準を確立し、お客様に今までにないメリットを提供します。数多くの測定システムやセンサー技術がある中で、HP-O光学センサーソリューションの精度、測定の柔軟性、スループットを兼ね備えたソリューションは、市場には他に存在しません。 特長・メリット 市場最高の組み合わせ あるセンサーは速く、あるセンサーはアクセス性を与え、あるセンサーは柔軟である。HP-Oは、これらすべての利点を高速、良好なアクセス性、優れた精度で兼ね備えています。 柔軟で調整可能なソリューション HP-Oのセンサーには様々な種類があり、それぞれが特定の要件を満たすために開発されています。どんなに厳しいアプリケーションでも、光学的に測定できるものであれば、HP-Oの光学センサーソリューションは完璧です。 高速スキャニング インターフェロメトリックレーザーシステムにより、1秒間に1,000点のデータを取得することが可能です。これにより、これまでにない光学スキャン時間を実現しています。