半導体用テスト システム

自動

GaNやSiCなどのワイド・バンドギャップ・デバイスを含む、今日のアナログおよびパワー半導体技術では、測定性能を最大化し、市場投入までの時間を短縮し、幅広い製品の組み合わせに対応し、テスト・コストを最小限に抑えるパラメトリック・テストが必要とされています。 ケースレーは、高速生産ソリューションと完全にカスタマイズ可能なテスト・ソリューションの双方により、ワークフロー全体における重要なアプリケーションにおける、さまざまな重要な課題に対応します。