半導体用テスト システム

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半導体用テスト システム
半導体用テスト システム

... GaNやSiCなどのワイド・バンドギャップ・デバイスを含む、今日のアナログおよびパワー半導体技術では、測定性能を最大化し、市場投入までの時間を短縮し、幅広い製品の組み合わせに対応し、テスト・コストを最小限に抑えるパラメトリック・テストが必要とされています。 ケースレーは、高速生産ソリューションと完全にカスタマイズ可能なテスト・ソリューションの双方により、ワークフロー全体における重要なアプリケーションにおける、さまざまな重要な課題に対応します。 ...

パフォーマンステスト システム
パフォーマンステスト システム
VIP Ultra

... 概要
VIP Ultra は Cosmic による次世代の自動試験装置(ATE)で、パワー半導体(Si、SiC、GaN)の高スループット試験向けに設計されています。クリーンルーム統合を想定しており、並列スケールは 48 サイト(80 V / 250 A)から 16 サイト(4 kV / 250 A)まで対応し、DC およびエネルギー・ストレス試験をコンパクトな設置面積で実行できるように最適化されています。

主な利点 / 選ばれる理由

  • パワー製品の試験フローにおける総保有コスト(TCO)の低減
  • 広範な並列試験能力による超高スループット
  • プローバーやハンドラとの統合が容易な最小限の占有面積

製品概要
VIP ...

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Cosmic Equipment S.p.A.
エレクトロニクス産業用テスト システム
エレクトロニクス産業用テスト システム
DMT EVO

... 概要
DMT EVOは、R&D、ラボ、試作前および量産後の段階でのICの特性評価・検証に適した、コンパクトなミックスドシグナル/デジタル自動試験装置(ATE)です。最大5スロットのモジュラーメインフレームにより、電源、デジタルモジュール、AWG/デジタイザ、測定ユニットを組み合わせて柔軟に構成できます。直感的なグラフィカルUIで操作し、テスト記述を最適化された実行コードに変換する自動コード生成ツールKronosを備えています。

主な利点

  • ラボや試作環境に適した非常にコンパクトな占有面積で高密度のリソースを提供。
  • Kronosによる自動コード生成でテスト開発時間を短縮。
  • トラブルシューティング用のオシロスコープなどデバッグツールを統合。
  • 最大5スロットの柔軟なモジュール組合せにより要求に合わせて構成可能。
  • アナログおよびミックスドシグナルICのライフサイクル全体での特性評価に適合。


製品の特徴 ...

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Cosmic Equipment S.p.A.
パフォーマンステスト システム
パフォーマンステスト システム
HATINA GP

... 製品概要
HATINA GP は、スマートパワーICおよびSoC の特性評価および高並列度の量産試験向けに設計された自動試験装置(ATE)プラットフォームです。モジュラー式の主フレームは最大10スロットを備え、アナログ/電源、デジタルチャネル、精密計測器を統合したコンパクトで省エネルギーな構成が可能です。直感的なグラフィカルインターフェースで制御でき、Kronos ソフトウェアは試験プログラムの自動生成をサポートします。

主な機能
各スロットに高速度デジタルチャネル、高電流DC電源、精密測定ユニットを組み合わせる柔軟な機器構成をサポートします。モジュラー主フレームにより機器の交換や拡張が容易です。スロット当たりのリソースには、高速デジタルI/O、PPMU/アクティブロード、高電流DCSモジュール、AWG、ディジタイザ、差動電圧計などが含まれ、ウェーハレベルおよびパッケージ品の試験ワークフローに対応します。

選ばれる理由

  • 内蔵マルチプレクサによりロードボードの複雑性を低減
  • 並列試験効率
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Cosmic Equipment S.p.A.
衝撃圧テスト システム
衝撃圧テスト システム
PST6747Ai series

... 製品概要
PST6747Aiシリーズは、パワー半導体デバイスの静的パラメータを精密に測定・解析するための半導体試験システムです。3 kV(10 kVオプション)/2200 Aまで対応し、高速パルス動作や fA レベルの電流検出をサポートし、IGBT、GaN、SiC 等の最新デバイスの特性評価に適しています。

モデル

  • PST6747Ai:高精度、研究開発向け。試験レポートは詳細な特性曲線とパラメータを提供します。
  • PST6747Ai-F:高精度、工場出荷前の製品試験向け。レポートはユーザードキュメントに利用可能です。
  • PST6747Ai-L:標準精度、材料受入れ/供給元比較試験向け。メーカーの報告と比較しやすい形式のレポートを提供します。

モジュラー設計とハードウェア
本シリーズはモジュラー設計を採用し、P6701B(3 ...

ホール効果テスト システム
ホール効果テスト システム
DX-300

... DX-300は自動ホール効果試験システムであり、半導体および導電性材料を特性評価するための電磁式の完全自動測定プラットフォームです。自動化されたVan der Pauw/Hall測定とデータ解析により、電気的および磁気輸送パラメータを提供します。

主な機能

  • 自動結果算出:体積および表面のキャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数、磁気抵抗など。
  • 統合ハードウェア:電磁石と電源、高精度定電流源、高精度ボルテージメーター、System SourceMeter、マトリクスカード、ホール試料ホルダー、3Dマイクロプローブステーション、ビデオ顕微鏡、標準試料。
  • ワンキー自動測定と自動Van
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ホール効果テスト システム
ホール効果テスト システム
DX-1000T

... この機器システムは、電磁石、電磁石電源、高精度定電流源高精度電圧計、ガウス計、ホール効果サンプルホルダー、標準サンプル、高温および低温デュワー、温度コントローラー、およびシステムソフトウェアで構成されています。 テスト可能な材料: - 半導体材料: SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTeおよびフェライト材料など。 - 低インピーダンス材料: グラフェン、金属、透明酸化物、弱磁性半導体材料、TMR材料など。 - 高抵抗材料: 半絶縁GaAs、GaN、CdTeなど テクニカルインジケーター ...

抵抗率テスト システム
抵抗率テスト システム
DXHCR1100

... 製品概要
Dexinmagの機器は、ゼーベック効果・ペルティエ効果・トムソン効果などの熱電相互作用を、室温(RT)から1500°Cまでの温度帯でゼーベック係数と抵抗率を同時に測定して評価します。熱起電力(ゼーベック係数)はV/Kで表され温度依存性があります。DXHCR1100は制御雰囲気や多様な試料形状に対応し、研究開発および品質管理に適しています。

適用分野

  • 熱電材料開発:半導体、スカッタルダイト等の熱電材料のゼーベック係数および電気伝導度の測定、ZT算出、高温評価(最大1500°C)や制御雰囲気下(真空/還元/酸化)での評価。
  • 電子・機能性材料の特性評価:半導体薄膜、導電性ポリマー、金属酸化物の電気輸送特性研究;高温超伝導体やセラミック複合材料の抵抗−温度特性評価。
  • エネルギー材料・デバイス研究:リチウムイオン電池電極や固体電解質の抵抗率・接触特性解析;燃料電池用触媒の導電性評価(各種雰囲気下)。
  • 産業向け品質管理・プロセス最適化:合金、セラミックス、炭素材料の熱電特性試験による焼結プロセス指針;高温耐性・耐食性材料の評価。
  • 学術研究・規格試験:大学・研究機関での基礎研究や規格(例:ASTM
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機械振動テスト システム
機械振動テスト システム
ES-10

... アプリケーション: 電気振動シリーズ製品のメーカーであり、「二重磁気回路構造」、「自己生成スケルトンアクションサークル」、「空中サポート」、「ローラーベアリングとリニアガイダンス」、「トラニオン分離」先進的な現代技術 と特殊技術を採用し、 X、Y、Z 3 軸正弦波振動試験と広帯域ランダム振動試験で完了し、古典的な(半正弦、台形、鋸歯状)パルスと衝撃応答スペクトル試験で完了します。 広く国防、武器、航空、航空宇宙、通信、エレクトロニクス、電化製品、通信、家電製品および他の分野で使用される高周波振動試験機。 ...

研究所用テスト システム
研究所用テスト システム
MX710D SiC

... 製品紹介
MX710Dシリーズは、SiCの実験室向け動的試験システムであり、高精度なプログラム可能直流電源、治具ユニット、計測・制御ユニット、ドライバ制御ユニット、保護ユニットおよび各種試験機器で構成されています。自社開発のシステム試験ソフトウェアを採用し、SiCデバイスの動的特性(ターンオン、ターンオフ、ダイオードの逆回復、短絡特性など)を安定かつ高精度に評価するためのプラットフォームを提供します。

製品の特長

  • 実験室用途向けに設計され、試験機能が充実:単パルス、二重パルス、短絡試験に対応;
  • 過電流保護を備え、デバイス故障時に素早く電流回路を遮断;
  • 寄生インダクタンスを極力抑えるコンパクト設計で、SiCの高速スイッチング試験に対応;
  • 高い互換性:各種デバイス、モジュール、回路に対して、適切な構成や治具で対応可能;
  • 操作性に優れたHMIを採用し、簡便な操作が可能。

製品インターフェース ...

エレクトロニクス産業用テスト システム
エレクトロニクス産業用テスト システム

... システムの特徴 - STS8200をベースにしたIPMテスト・キット - テスト仕様:2000V/100A DC、200A Dynamic AC - スタティックおよびダイナミック・パラメータ・テストをサポート - プログラム可能なデュアルパルスおよびマルチパルス TRR/IRR/TRI/TFV/TON/TCON/EOON/TFI/TRV/TOFF/TCOFF/EOFFなど。 - 短絡電流テスト ISC, TSCなど - プログラム可能な過電流保護 - メニュー駆動によるプログラミング対応 ...

エレクトロニクス産業用テスト システム
エレクトロニクス産業用テスト システム
PMST

... MOSFET BJT IGBTおよびSiC GaN半導体用PMSTパワーデバイスアナライザ静的テストシステム パワーデバイス静的パラメータテストシステム(PMST)は、様々な測定・解析機能を統合しており、パワーデバイス(MOSFET、BJT、IGBTなど)の静的パラメータを正確に測定することができます。このシステムは、異なるパッケージタイプのパワーデバイスの静的パラメータを測定することができ、高電圧、高電流特性、uΩレベルの正確な測定、pAレベルの電流測定能力という特性を持っています。高電圧モードにおけるパワーデバイスの接合キャパシタンス(入力キャパシタンス、出力キャパシタンス、逆方向転送キャパシタンスなど)の測定をサポートしています。 -最大電圧:3500V、10kVまで拡張可能。 -最大電流:6000A(複数モジュール並列)。 -nAの漏れ電流、μΩの導電抵抗。 -精密測定の正確さ ...

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Wuhan Precise Instrument Co.,Ltd
実験用テスト システム
実験用テスト システム
IP750Ex-HD

... IP750Ex-HDは、現在および将来のデバイスに対応するイメージセンサテスト機能を提供すると同時に、最低のテストコストを実現します。 - 現在および次世代デバイス向けに設計された高度なイメージセンサテストシステム。 - 高スループットと低コストのテストに最適化。 - 幅広いイメージセンサ技術と構成をサポート。 - 進化するデバイス要件に対応する柔軟なアーキテクチャ。 - 生産環境での信頼性とスケーラビリティを考慮して設計。 利点と構成: - 並列テストのための高密度ピンエレクトロニクス。 - ...

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Teradyne
電動式テスト システム
電動式テスト システム
MP5000

... 概要
Tektronix MP5000 モジュラ精密テストシステムは拡張を前提に設計されています。SMU モジュールと PSU モジュールを混在させて使用でき、後からシステムを拡張できます。高いチャンネル密度と高速なモジュール交換によりダウンタイムを最小限に抑え、スループットを最大化します。Tektronix の計測精度とサポートにより、次世代のテスト要件に対応します。

MP5000 の主な利点

  • 性能の最適化
  • ダウンタイムの最小化
  • 適応可能な設計
  • テスト自動化の容易化


ハイライト ...

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