集積回路テスト システム

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熱サイクル用テスト システム
熱サイクル用テスト システム
SMG2-600-CB-W

... SANWOOD メモリバーンイン試験システム メモリIC向け統合バーンインおよび機能試験 SANWOODメモリバーンイン試験システムは、制御された熱環境、電気的ストレス、およびメモリ機能試験を、構成可能なプラットフォームに統合しています。バーンインボード(BIB)を中核として設計されており、 デバイスの並列スクリーニングおよび信頼性評価をサポートし、お客様のメモリ製品やテストプロセスに合わせてシステム構成を調整可能です。 チャンバーの寸法、デバイス収容数、基板配置、および熱負荷能力は、パッケージサイズ、BIB設計、動作電力、生産要件に応じてカスタマイズ可能です。 バーンインとメモリテストの統合 1つのテストワークフロー内で、温度曝露、電気的励起、および機能テストのシーケンスを連携させます。DRAMおよびLPDDRアプリケーションの場合、構成にバーンインおよびコアテストを組み込むことで、ストレススクリーニングとデバイス評価間の移行を効率化できます。 電気的テスト条件、デバイス接続、およびテストプログラムは、選択されたメモリファミリーとテスト目的に合わせて調整されます。 デバイス収容数を設定可能な並列テスト BIBベースの配置により、複数の基板にまたがって複数のデバイスを収容できます。収容数は、デバイスパッケージ、ソケットレイアウト、BIBの寸法、利用可能な基板位置、および動作時の熱負荷によって決定されます。 SANWOODは、必要なサンプル数とスループートに合わせてチャンバーサイズとロード配置を構成でき、お客様のテストニーズの拡大に合わせて装置容量を計画するお手伝いをします。 通電メモリ負荷の熱制御 実装済みのメモリボードが電気的ストレス下で動作する場合、温度分布は重要な考慮事項となります。 ...

エレクトロニクス産業用テスト システム
エレクトロニクス産業用テスト システム
STS8200

... アナログICテスター-STS8200 システムの特徴 - メインフレームに最大26スロット搭載可能 - アナログ、リニア、PMIC、パワーICにフォーカス - フルフローティングV/Iソース、ピンごとの16ビットデジタイザーとAWGを搭載 - 高電圧V/Iソース、高電力V/Iソース(オプション - AWGおよびデジタイザー付きACソース/メーター - 多チャンネル高分解能時間測定ユニット - 最大32のデジタル・チャネル、チャネルあたり5Mhzのテスト・レート - グラフィック・デバッグ・ツール ...

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Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
加速エージングテスト システム
加速エージングテスト システム
LDBI

... 多チャンネル高出力レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています深刻な破片の暖房等。それは一組の普遍的な、高い発電、循環の水冷の老化のテスト システムです。プロダクトに大きい流れおよび狭い脈拍、安定した流れ、強い反干渉の能力のよい一定した現在の特徴があり、高出力の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの老化テストに完全な解決を提供する反オーバー ...

集積回路テスト システム
集積回路テスト システム
BAT-NEDQ-04-V010

... このデバイスは、US TI シリーズ (BQ27742、BQ277410、BQ28z610、BQ27541、BQ27545、BQ2753X など) を比較するICを用いて、1秒および2秒バッテリ用のシングルバスリチウムイオンバッテリ保護ボードの基本的および保護機能を迅速に評価するように設計されています。 幅広いガスゲージICと互換性があり、高精度と迅速なテスト速度を誇っています。 高い精度を誇り、目の肥えたお客様に最適です。 ...

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Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
エレクトロニクス産業用テスト システム
エレクトロニクス産業用テスト システム
VERTA series

... Teradyneの光スイッチングと電力管理機器のファミリーは、高速バス接続を制御します。 - 高速光および電気バス接続用に設計されています。 - 自動テストシステムのための高度な光スイッチング機能を提供します。 - 正確な制御と監視のための統合された電力管理。 - 防衛、航空宇宙、商業電子機器の幅広いテストアプリケーションをサポートします。 - 様々なシステム要件に適合するモジュラーでスケーラブルなアーキテクチャ。 - Teradyneのテストプラットフォームおよびソフトウェアソリューションとのシームレスな統合。 主な特徴: - ...

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Teradyne
電動式テスト システム
電動式テスト システム
MP5000

... 概要
Tektronix MP5000 モジュラ精密テストシステムは拡張を前提に設計されています。SMU モジュールと PSU モジュールを混在させて使用でき、後からシステムを拡張できます。高いチャンネル密度と高速なモジュール交換によりダウンタイムを最小限に抑え、スループットを最大化します。Tektronix の計測精度とサポートにより、次世代のテスト要件に対応します。

MP5000 の主な利点

  • 性能の最適化
  • ダウンタイムの最小化
  • 適応可能な設計
  • テスト自動化の容易化


ハイライト ...

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