エレクトロニクス産業用テスト システム LDBI

半導体レーザーチップ用レーザーモジュール用自動

多チャンネルの高い発電レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています、破片の暖房深刻等。それは普遍的な、高い発電の循環水冷の老化のテスト システムのセットです。製品に大きい流れおよび狭い脈拍のよい一定した現在の特徴、安定した流れ、強い反干渉の能力があり、高出力の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの老化テストに完全な解決を提供する反過剰衝撃、反動、反サージ電圧調整および一定した現在の二重保護回路の機能を備えています。 製品の特徴 - 1つのドロワーで最大16チャンネル、最大8ドロワーまで対応可能 - 各チャンネルはそれぞれ独立しています - 電流読み取り、電圧、光パワーなどの同期自動測定が可能 - 加熱フィルム加熱、室温-125℃の温度制御範囲 - 電源のアンチサージ設計 - 受光素子水冷式 - 絶対精度±1℃、異なるDUTの温度均一性±2℃。 - 自動エージングデータ記録、データエクスポート