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... 概要
ASTシリーズは、モーターのステータ、コイルおよび巻線の生産検査向け自動試験システムです。AST5/Wプラットフォームは柔軟な構成とカスタマイズ性を備え、数ワットから最大5 MWまで、224端子をサポートします。
用途と対象範囲
自動ラインへの組み込みやオペレータ操作の試験台シングルダブルステーションに対応。小型から大型のモーターに適合し、必要に応じて中電圧試験対応のバリエーションがあります。
試験および測定機能
- 高電圧HV試験およびサージ試験基本試験を含む
- オプションの部分放電PD試験による絶縁診断
- 標準のHV/Surgeで検出できない巻線間や巻線対接地の絶縁不良を特定する特殊診断
ソフトウェア、データおよび結果管理
基本ソフトは測定取得と結果保存・印字・アーカイブの基本機能を提供します。機能試験プログラムのデータベース、ユーザー定義テストシーケンス種別、数、順序、パラメータ、多言語証明書印刷、オプションのラベル印刷、結果の保存アーカイブ、予防保全プログラム、キャリブレーション、自己診断。リモート支援およびLAN接続が可能です。
オプションおよび特別モジュール
- 部分放電モジュールオプション
- 特別モジュール320/ACSステータ巻線のボンディングを行い、最大3台のボンディング電源を並列で管理詳細はACS320/W参照
- AST5/WH中電圧仕様で最大60
... 製品概要 FTI‑1000 Wafer HVは、パワー向けディスクリート素子およびワイドバンドギャップ技術の高カバレッジ・ウェハーテスト向けに設計されたウェハーレベルのATEシステムです。Wafer HVバリアントは高電圧のDC/ACソースを備え、1サイトのプローブ用途で6 kV DCおよび5.5 kV ACまでの要件に対応します。
選定理由
- 柔軟な構成 — Tester‑per‑Channel Boardのモジュラーアーキテクチャにより独立したリソースとスケーラブルな拡張が可能
- 網羅的な電気試験
... 製品概要
Hatina WLBI は、ウエハ上のパワーデバイス向けに設計されたウエハーレベルの Burn-In（WLBI）および HTOL ソリューションです。コンパクトな試験チャンバー（概寸 560×560×550 mm、仕様表 D×W×H 560×560×560 mm）は標準的なウエハプローバーに接続してフルウエハのバーンインを高並列で実行します。各 DUT にヒーターを内蔵し、オーブンを用いない局所的で低消費電力の温度制御を実現することで、エネルギー消費と占有面積を低減し、オートメーション統合を簡素化します。
主な利点
- 対応技術：Si、SiC、GaN
... アナログICテスター-STS8200 システムの特徴 - メインフレームに最大26スロット搭載可能 - アナログ、リニア、PMIC、パワーICにフォーカス - フルフローティングV/Iソース、ピンごとの16ビットデジタイザーとAWGを搭載 - 高電圧V/Iソース、高電力V/Iソース（オプション - AWGおよびデジタイザー付きACソース/メーター - 多チャンネル高分解能時間測定ユニット - 最大32のデジタル・チャネル、チャネルあたり5Mhzのテスト・レート - グラフィック・デバッグ・ツール ...
Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
... 多チャンネル高出力レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています深刻な破片の暖房等。それは一組の普遍的な、高い発電、循環の水冷の老化のテスト システムです。プロダクトに大きい流れおよび狭い脈拍、安定した流れ、強い反干渉の能力のよい一定した現在の特徴があり、高出力の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの老化テストに完全な解決を提供する反オーバー ...
... このデバイスは、US TI シリーズ (BQ27742、BQ277410、BQ28z610、BQ27541、BQ27545、BQ2753X など) を比較するICを用いて、1秒および2秒バッテリ用のシングルバスリチウムイオンバッテリ保護ボードの基本的および保護機能を迅速に評価するように設計されています。 幅広いガスゲージICと互換性があり、高精度と迅速なテスト速度を誇っています。 高い精度を誇り、目の肥えたお客様に最適です。 ...
... IP750Ex-HDは、現在および将来のデバイスに対応するイメージセンサテスト機能を提供すると同時に、最低のテストコストを実現します。 - 現在および次世代デバイス向けに設計された高度なイメージセンサテストシステム。 - 高スループットと低コストのテストに最適化。 - 幅広いイメージセンサ技術と構成をサポート。 - 進化するデバイス要件に対応する柔軟なアーキテクチャ。 - 生産環境での信頼性とスケーラビリティを考慮して設計。 利点と構成: - 並列テストのための高密度ピンエレクトロニクス。 - ...
... 概要
Tektronix MP5000 モジュラ精密テストシステムは拡張を前提に設計されています。SMU モジュールと PSU モジュールを混在させて使用でき、後からシステムを拡張できます。高いチャンネル密度と高速なモジュール交換によりダウンタイムを最小限に抑え、スループットを最大化します。Tektronix の計測精度とサポートにより、次世代のテスト要件に対応します。
MP5000 の主な利点
- 性能の最適化
- ダウンタイムの最小化
- 適応可能な設計
- テスト自動化の容易化
ハイライト ...