マルチチャンネルテスト システム
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... - FREJA Winソフトウェアによる完全自動検査 - 直感的な高解像度グラフィック・タッチスクリーンを使用したスタンドアロン操作。 - 大電流、高出力 - 各相最大60A/300VA rms - 4電圧チャンネル、3電流チャンネル、変換可能な電圧チャンネルで1電圧、6電流を提供 - ダイナミックGPS衛星同期エンドツーエンド試験機能 - IEC 61850試験機能 FREJA 546リレーテストシステムは、保護リレーの二次試験用に設計された多目的の軽量ポータブル機器です。FREJA Localソフトウェアを実行する内蔵タッチスクリーンユーザーインターフェースを介して手動で操作することも、FREJA ...
... 概要
VIP Ultra は Cosmic による次世代の自動試験装置(ATE)で、パワー半導体(Si、SiC、GaN)の高スループット試験向けに設計されています。クリーンルーム統合を想定しており、並列スケールは 48 サイト(80 V / 250 A)から 16 サイト(4 kV / 250 A)まで対応し、DC およびエネルギー・ストレス試験をコンパクトな設置面積で実行できるように最適化されています。
主な利点 / 選ばれる理由
- パワー製品の試験フローにおける総保有コスト(TCO)の低減
- 広範な並列試験能力による超高スループット
- プローバーやハンドラとの統合が容易な最小限の占有面積
製品概要
VIP ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... 概要
DMT EVOは、R&D、ラボ、試作前および量産後の段階でのICの特性評価・検証に適した、コンパクトなミックスドシグナル/デジタル自動試験装置(ATE)です。最大5スロットのモジュラーメインフレームにより、電源、デジタルモジュール、AWG/デジタイザ、測定ユニットを組み合わせて柔軟に構成できます。直感的なグラフィカルUIで操作し、テスト記述を最適化された実行コードに変換する自動コード生成ツールKronosを備えています。
主な利点
- ラボや試作環境に適した非常にコンパクトな占有面積で高密度のリソースを提供。
- Kronosによる自動コード生成でテスト開発時間を短縮。
- トラブルシューティング用のオシロスコープなどデバッグツールを統合。
- 最大5スロットの柔軟なモジュール組合せにより要求に合わせて構成可能。
- アナログおよびミックスドシグナルICのライフサイクル全体での特性評価に適合。
製品の特徴 ...
Cosmic Equipment S.p.A.
... 製品概要
HATINA GP は、スマートパワーICおよびSoC の特性評価および高並列度の量産試験向けに設計された自動試験装置(ATE)プラットフォームです。モジュラー式の主フレームは最大10スロットを備え、アナログ/電源、デジタルチャネル、精密計測器を統合したコンパクトで省エネルギーな構成が可能です。直感的なグラフィカルインターフェースで制御でき、Kronos ソフトウェアは試験プログラムの自動生成をサポートします。
主な機能
各スロットに高速度デジタルチャネル、高電流DC電源、精密測定ユニットを組み合わせる柔軟な機器構成をサポートします。モジュラー主フレームにより機器の交換や拡張が容易です。スロット当たりのリソースには、高速デジタルI/O、PPMU/アクティブロード、高電流DCSモジュール、AWG、ディジタイザ、差動電圧計などが含まれ、ウェーハレベルおよびパッケージ品の試験ワークフローに対応します。
選ばれる理由
- 内蔵マルチプレクサによりロードボードの複雑性を低減
- 並列試験効率
Cosmic Equipment S.p.A.
... 概要
UHV-803 は、現場および試験室での検証・校正用に設計された小型マイクロコンピュータ式三相リレー保護試験器です。DSP+FPGA 制御、真の16ビットDAC、モジュラー線形高出力増幅器を組み合わせ、携帯可能な筐体で正確な多チャネル電圧・電流注入を実現します。
主な特長
- 柔軟な多チャネル出力:4相電圧出力および3相電流出力を設定可能で、標準試験や変圧器差動、迅速切替などの特殊試験に対応。
- PC制御運用:ノートPC/デスクトップへの直接接続により、自動化された再現性の高い試験を実行可能。
- 線形増幅:モジュラー高忠実度(非スイッチング)増幅器により、全ての電流範囲で高中周波干渉(HF/EMI)を低減。
- 携帯型ホスト:DSP制御の出力と高速処理を備えたコンパクト設計。8.4インチ
... アナログICテスター-STS8200 システムの特徴 - メインフレームに最大26スロット搭載可能 - アナログ、リニア、PMIC、パワーICにフォーカス - フルフローティングV/Iソース、ピンごとの16ビットデジタイザーとAWGを搭載 - 高電圧V/Iソース、高電力V/Iソース(オプション - AWGおよびデジタイザー付きACソース/メーター - 多チャンネル高分解能時間測定ユニット - 最大32のデジタル・チャネル、チャネルあたり5Mhzのテスト・レート - グラフィック・デバッグ・ツール ...
Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
... 多チャンネル高出力レーザーの老化システムは狭い脈拍の高い現在のテストおよび老化を使用する必要があるキロワットの高い発電の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの問題を解決するように設計されています深刻な破片の暖房等。それは一組の普遍的な、高い発電、循環の水冷の老化のテスト システムです。プロダクトに大きい流れおよび狭い脈拍、安定した流れ、強い反干渉の能力のよい一定した現在の特徴があり、高出力の半導体レーザーの破片およびポンプ レーザー モジュールの老化テストに完全な解決を提供する反オーバー ...
... このデバイスは、US TI シリーズ (BQ27742、BQ277410、BQ28z610、BQ27541、BQ27545、BQ2753X など) を比較するICを用いて、1秒および2秒バッテリ用のシングルバスリチウムイオンバッテリ保護ボードの基本的および保護機能を迅速に評価するように設計されています。 幅広いガスゲージICと互換性があり、高精度と迅速なテスト速度を誇っています。 高い精度を誇り、目の肥えたお客様に最適です。 ...
... IP750Ex-HDは、現在および将来のデバイスに対応するイメージセンサテスト機能を提供すると同時に、最低のテストコストを実現します。 - 現在および次世代デバイス向けに設計された高度なイメージセンサテストシステム。 - 高スループットと低コストのテストに最適化。 - 幅広いイメージセンサ技術と構成をサポート。 - 進化するデバイス要件に対応する柔軟なアーキテクチャ。 - 生産環境での信頼性とスケーラビリティを考慮して設計。 利点と構成: - 並列テストのための高密度ピンエレクトロニクス。 - ...
... 概要
Tektronix MP5000 モジュラ精密テストシステムは拡張を前提に設計されています。SMU モジュールと PSU モジュールを混在させて使用でき、後からシステムを拡張できます。高いチャンネル密度と高速なモジュール交換によりダウンタイムを最小限に抑え、スループットを最大化します。Tektronix の計測精度とサポートにより、次世代のテスト要件に対応します。
MP5000 の主な利点
- 性能の最適化
- ダウンタイムの最小化
- 適応可能な設計
- テスト自動化の容易化
ハイライト ...